[发明专利]高分辨率光谱仪及其光学定标方法有效
| 申请号: | 201210015050.8 | 申请日: | 2012-01-17 |
| 公开(公告)号: | CN102538969A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
| 发明(设计)人: | 曾立波;张新民;吴琼水;刘佳 | 申请(专利权)人: | 北京华夏科创仪器技术有限公司 |
| 主分类号: | G01J3/433 | 分类号: | G01J3/433 |
| 代理公司: | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人: | 闫强 |
| 地址: | 100085 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 高分辨率 光谱仪 及其 光学 定标 方法 | ||
1.高分辨率光谱仪,为阿达玛变换光谱仪,按入射光顺序包括光入射口、准直镜、光栅、第一聚焦镜、数字微镜、第二聚焦镜和检测器,其特征在于:在所述第一聚焦镜和所述数字微镜之间设置有棱镜;所述光栅为中阶梯光栅;所述数字微镜为二维数字微镜。
2.根据权利要求1所述高分辨率光谱仪,其特征在于:所述第一聚焦镜为球面镜。
3.根据权利要求2所述高分辨率光谱仪,其特征在于:所述第二聚焦镜为凸透镜。
4.如权利要求1至3之一所述高分辨率光谱仪的光学定标方法,其特征在于包括如下步骤:
同一光栅级次,介于波长λ1和λ2之间的波长为λ的光斑在二维数字微镜上的坐标X和Y为:
其中,所述波长λ1的光斑在所述二维数字微镜上的坐标为x1和y1;所述波长λ2的光斑在所述二维数字微镜上的坐标为x2和y2。
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