[发明专利]一种基于微型电子加速器和能谱测量技术的高精度直流特高压测量方法有效
| 申请号： | 201210013051.9 | 申请日： | 2012-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN103207316A | 公开（公告）日： | 2013-07-17 |
| 发明（设计）人： | 阴泽杰;李世平 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01R19/04 | 分类号： | G01R19/04;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;赵镇勇 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 微型 电子 加速器 测量 技术 高精度 直流 高压 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于微型电子加速器和能谱测量技术的高精度直流特高压测量方法，其特征在于，包括：
将待测高压加在高真空电子加速管两端的电极上形成加速电场，并通过激光光源发出连续的光在光阴极激发出光电子，所述光电子受电场作用而加速，然后射入闪烁体探测器中产生闪烁光脉冲，将所述闪烁光脉冲经集束光纤传输到低压侧的电子学系统产生电压或电流脉冲；
通过分时多道对所述电压或电流脉冲的幅度进行测量，得到符合高斯分布的能谱，所述能谱的峰值处对应的能量正比于待测高压的大小。
2.根据权利要求1所述的基于微型电子加速器和能谱测量技术的高精度直流特高压测量方法，其特征在于，激发出的所述光子由光纤导入，接收的所述光电子由接收集束光纤导出。
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