[发明专利]一种量产测试仪及量产老化测试系统

说明书

技术领域

本发明属于测试技术领域，尤其涉及一种量产测试仪及量产老化测试系统。

背景技术

电子产品在投入市场前，一般需要进行量产测试和老化测试。其中，量产测试是指批量对待量产产品的主控芯片写入相应数据(如：生产厂商信息、格式化、加载驱动、底层软件等)，以使得其它设备能够正确识别该待量产产品，并使得该待量产产品具有某些特定功能；老化测试是指模拟待老化产品在现实使用条件下涉及到的各种因素，以对待老化产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程，进而了解待老化产品在特定条件下使用时的老化情况，确保待老化产品的可靠度和寿命周期，对提高产品的质量有重要帮助。

现有技术中，对待量产测试设备的量产测试与老化测试是分别进行的，具体过程为：首先在电脑的协助下，利用量产测试仪完成对待量产测试设备的联机量产测试，之后将量产测试后的待量产测试设备从量产测试仪上取下，再安装在老化测试仪上进行老化测试。由于现有技术提供的量产测试仪本身不具备老化测试功能，使得量产测试和老化测试需经两个阶段进行，而量产测试仪为联机使用，移动不便，导致测试过程工序较多，量产效率低，特别是大批量量产时，效率更低。

发明内容

本发明的目的在于提供一种量产测试仪，旨在解决现有技术提供的量产测试仪本身不具备老化测试功能，导致测试过程工序较多，量产效率低的问题。

本发明是这样实现的，一种量产测试仪，所述量产测试仪包括：

老化测试单元；

至少一个插接口，用于分别连接待量产测试设备；

温度采集单元，用于采集所述待量产测试设备周围的环境温度；

控制单元，用于检测到所述插接口连接有所述待量产测试设备后，调用量产工具，并通过所述插接口完成对所述待量产测试设备的量产工序，之后获取所述温度采集单元采集的所述环境温度，并当所述环境温度大于或等于一预设温度时，控制所述老化测试单元对处于老化测试中的所述待量产测试设备进行质量检测；

存储单元，用于存储所述控制单元调用的所述量产工具，以及所述老化测试单元得到的质量检测结果数据；

供电单元，用于向所述控制单元供电。

本发明的另一目的在于，还提供了一种量产老化测试系统，包括一老化箱，所述量产老化测试系统还包括一量产测试仪，所述量产测试仪是如上所述的量产测试仪。

本发明提供的量产测试仪在现有基础之上，增加了温度采集单元以及老化测试单元，以使得量产测试仪在具备量产测试功能的同时，还具备老化测试的功能，实现量产测试、老化测试连续进行的功能。该量产测试仪在对待量产测试设备进行量产老化测试过程中，无需将量产测试后的待量产测试设备取下再连接到单独的老化测试仪上，减少了测试工序，缩短了测试时间，提高了测试效率，且节约了人力成本。

附图说明

图1是本发明实施例提供的量产测试仪的原理框图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

为了克服现有技术提供的量产测试仪存在的弊端，本发明实施例提供的量产测试仪在现有基础之上，增加了温度采集单元以及老化测试单元，以使得量产测试仪在具备量产测试功能的同时，还具备老化测试的功能。

图1是本发明实施例提供的量产测试仪的原理框图，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。

本发明实施例提供的量产测试仪包括：老化测试单元14；至少一个插接口12，用于分别连接待量产测试设备；温度采集单元13，用于采集该待量产测试设备周围的环境温度；控制单元11，用于检测到插接口12连接有该待量产测试设备后，调用量产工具，并通过插接口12完成对该待量产测试设备的量产工序，之后获取温度采集单元13采集的环境温度，并当该环境温度大于或等于一预设温度时，控制老化测试单元14对处于老化测试中的该待量产测试设备进行质量检测；供电单元15，用于向控制单元11供电。

与现有技术不同，本发明实施例提供的量产测试仪在现有基础之上，增加了温度采集单元13以及老化测试单元14，以使得量产测试仪在具备量产测试功能的同时，还具备老化测试的功能。该量产测试仪在对待量产测试设备进行量产老化测试过程中，无需将量产测试后的待量产测试设备取下再连接到单独的老化测试仪上，减少了测试工序，缩短了测试时间，提高了测试效率，且节约了人力成本。