[发明专利]双介质下基于双目视觉的目标姿态测量方法有效

专利信息
申请号: 201210008620.0 申请日: 2012-01-03
公开(公告)号: CN102607526A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 孙伟;郭宝龙;任龙;陈龙;胡博 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 介质 基于 双目 视觉 目标 姿态 测量方法
【权利要求书】:

1.一种双介质下基于双目视觉的目标姿态测量方法,包括如下步骤:

(1)对左右摄像机进行标定,得出摄像机的内参数和外参数,根据该内外参数计算出左摄像机的内参数矩阵Ml1、外参数矩阵Ml2和投影矩阵Ml,右摄像机内参数矩阵Mr1、外参数矩阵Mr2和投影矩阵Mr;通过左右两个摄像机采集目标物体的图像:设左摄像机采集到的图像为Il(x,y),右摄像机采集到的图像为Ir(x′,y′),并对两幅图像依次进行对比度增强和灰度降低处理;

(2)采用Harris角点检测的方法,找出空间目标在左图像Il(x,y)中的特征点,并得出左图像中每个特征点的图像坐标Pl=(x,y)T

(3)采用极线约束方法进行特征点匹配,并利用金字塔快速匹配方法,以左图像特征点为模板中心,找出空间目标点在右图像Ir(x′,y′)中与左图像特征点相匹配的特征点,得出特征点在右图像的图像坐标Pr=(x′,y′)T

(4)根据左右摄像机的参数和多对匹配特征点的图像坐标进行三维重建,得出特征点在空间中世界坐标系下的三维坐标;

(5)根据折射原理,建立三维坐标值的修正模型,利用该修正模型对世界坐标系下的三维坐标进行修正,得出准确的三维坐标值,在目标物体上建立目标坐标系,计算目标坐标系下的三维坐标值;

(6)根据RANSAC随机采样算法筛选出同一平面内的所有特征点,利用这些特征点在世界坐标系和目标坐标系下的三维坐标值,求解空间目标物体的姿态。

2.根据权利要求1所述的双介质下基于双目视觉的目标姿态测量方法,其中步骤(2)所述的采用Harris角点检测的方法,找出空间目标在左图像Il(x,y)中的特征点,按如下步骤进行:

(2a)利用式Ix=Il(-1,0,1)TIy=Il(-1,0,1)T]]>计算左图像Il(x,y)梯度图像,其中表示卷积运算,Ix为水平梯度图像,即图像在x方向的一阶偏导数,Iy为垂直梯度图像,即图像在y方向上的一阶偏导数;

(2b)利用水平梯度图像Ix和垂直梯度图像Iy构造自相关矩阵:

M=wIx2IxIyIxIyIy2=ACCB,]]>w=exp(-(x2+y2)/2σ2),是高斯平滑窗函数,w中的x,y是高斯窗函数内点的横纵坐标值,σ是尺度空间坐标,A是高斯平滑窗函数同图像在x方向上的二阶偏导数的卷积,B是高斯平滑窗函数同图像在y方向上的二阶偏导数的卷积,C是高斯平滑窗函数同图像在x和y方向的二阶混合偏导数的卷积,M矩阵是一个二阶实对称矩阵,必然存在两个特征值λ1和λ2

(2c)取图像中任意一点(x,y),将对该点是否为角点的判断转化为对M矩阵的特征值λ1和λ2的判断,并进一步将其转化为对矩阵M的迹trace(M)和行列式det(M)的计算和判断,其中trace(M)=λ12=A+B,det(M)=λ1λ2=AB-C2,当trace(M)和det(M)满足:det(M)-k·trace2(M)>T时,则点(x,y)是一个角点,并作为左图的一个特征点,这里T是一个固定的阈值,k是参数,k=0.04~0.06。

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