[发明专利]坞接式测试系统

说明书

技术领域

本发明是关于一种测试系统，尤其指一种适用于半导体组件、可轻易变换不同测试规格的坞接式测试系统。

背景技术

近几年来，随着微机电系统的日新月异，各种小型化、高性能且成本低廉的传感器纷纷问世，使得传感器由关键组件进一步提升成为产生创新价值的主要组件，例如：苹果公司的iPhone、新世代iPod、任天堂的Wii所使用的三轴加速度传感器，大部分采用微机电系统技术运用在传感器上，加速度传感器的运作原理为感应出加速度方向的XYZ三轴成分，从而得出物体在三度空间中的运动向量。

现有微机电产品测试上，已由最初单点(single site)旋转测试发展到多点(multi sites)旋转测试。但测试完成后如需进行其它如扫脚(lead scan)、卷带包装(tape & reel)等动作，要通过相应装置来处理，耗费时间与成本。

发明内容

本发明的目的在于提供一种坞接式测试系统，以改进公知技术中存在的不足。

为实现上述目的，本发明提供的坞接式测试系统，包括：

一第一机台，包括有一第一本体以及设于该第一本体上的一转塔以及围绕该转塔而设置的一进料槽、一检视装置、一料盘及一移行机构，该第一本体包括有一第一坞接面板，该转塔包括呈角度相间隔排列的复数吸取头，该移行机构包括有一取放器，该进料槽、该检视装置及该料盘分别对应设置于该复数吸取头下方；以及

一第二机台，包括有一第二本体以及设于该第二本体上的一测试装置，该第二本体包括有一第二坞接面板，该第二坞接面板选择式接合于该第一坞接面板，该测试装置包括有一承载座；

其中，该移行机构的该取放器移行于一第一位置与一第二位置，当该取放器位于该第一位置时对应于该料盘，当该取放器位于该第二位置时对应于该承载座。

所述的系统，其中，该第一坞接面板与该第二坞接面板由复数销而定位，并通过复数螺锁件相互固定。

所述的系统，其中，该第二机台包括一保护罩，罩盖住该测试装置。

所述的系统，其中，该保护罩包括有一对平行延伸段搭接在该第一本体，由一侧面视角观察，该保护罩呈倒L形。

所述的系统，其中，该检视装置为一电荷耦合组件。

所述的系统，其中，包括另一第一机台接合于该第二机台。

所述的系统，其中，该第一机台包括另一移行机构与该移行机构相隔设置。

所述的系统，其中，该第一机台包括一卷带式包装机构对应设置于该复数吸取头下方。

所述的系统，其中，该第一机台包括一横移机构与另一料盘，该二料盘皆设置于该横移机构，该横移机构移动使该二料盘其中之一正对于该复数吸取头下方。

本发明提供的坞接式测试系统，能整合更多功能以达到工艺高效率的目的。

本发明提供的坞接式测试系统，能因应不同待测组件类型，快速且方便更换对应的测试装置，减少设备成本，或者快速转换于不同组件数量的测试模式。

附图说明

图1是本发明第一较佳实施例的坞接式测试系统坞接前示意图。

图2是本发明第一较佳实施例的坞接式测试系统坞接后示意图。

图3是图1的第一机台局部放大图。

图4是图1的第二机台局部放大图。

图5是本发明第二较佳实施例的坞接式测试系统的测试装置示意图。

图6是本发明第三较佳实施例的坞接式测试系统第一运作状态的示意图。

图7是本发明第三较佳实施例的坞接式测试系统第二运作状态的示意图。

图8是本发明第四较佳实施例的坞接式测试系统的平面示意图。

图9是本发明第五较佳实施例的坞接式测试系统的第一机台部分示意图。

附图中主要组件符号说明：

第一机台10、40、41、50、60；

第一本体11，第一坞接面板111；

转塔12、62，吸取头121、621；

进料槽13；

检视装置14；

料盘15、43、44、52、53、63a、63b；

移行机构16、401、411、501、502、601，取放器161、661；

震动盘17；

包装装置18；

第二机台20、42、51；

第二本体21，第二坞接面板211；

测试装置22、421、511；

承载座23；

保护罩24，延伸段241；

销30；