[发明专利]继电器衔铁行程检测装置及方法有效
申请号: | 201210002803.1 | 申请日: | 2012-01-06 |
公开(公告)号: | CN102519337A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 张立军;唐峰;华国平 | 申请(专利权)人: | 宁波金海电子有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02;G01R31/327 |
代理公司: | 宁波天一专利代理有限公司 33207 | 代理人: | 杨高 |
地址: | 315202 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 继电器 衔铁 行程 检测 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种行程的检测装置,特别是用于检验继电器衔铁行程的检测装置。
背景技术
电磁继电器中衔铁行程的大小影响继电器吸合或释放的性能。电磁继电器磁路在组装过程中,由于各零件存在着公差,以及各个装配模具的差异,磁路组装后,衔铁行程误差无法检测。目前仍没有专门检测衔铁行程大小的检测仪器,从而影响继电器的技术性能。CN202041140U提出一种检测继电器衔铁超行程的塞规,通过插入衔铁与铁芯之间的第一塞片检测衔铁超行程的下限值,然后使第一塞片和第二塞片同时插到衔铁与铁芯之间,检测衔铁超行程的上限值,此方检测到的只是数值范围,无法得到精确值,再是塞规的厚度是一定的,同时塞进二块塞规,并不一定是超行程的上限值,上限值可能大于或小于塞规的2倍,因此塞规方法解决不了继电器衔铁行程测验实质问题。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于,针对上述技术现状,设计一种电磁继电器衔铁行程的检测装置及其检测方法,用于电磁继电器生产过程中挑选衔铁行程合格的产品,以达到提高电磁继电器的合格率、可靠性和生产效率。
本发明采用的技术解决方案为:继电器衔铁行程检测装置,它包括底板、支架、磁路托块、磁铁和百分表,支架垂直竖立在底板上,磁路托块放在底板上,百分表安装在支架上,所述的百分表测量头与磁路托块上表面垂直,所述磁路托块的上表面中间设可夹紧继电器的轭铁和衔铁的水平槽,所述磁路托块的水平槽下设放置可移动磁铁的拱形腔。
继电器衔铁行程的检测方法,其特征包括以下步骤:
a、根据继电器轭铁大小尺寸调节磁路托块中间水平槽的宽度,并把继电器的轭铁和衔铁夹紧在磁路托块水平凹槽中的水平位置;
b、在磁路托块下未放磁铁时,衔铁与铁芯未吸合,用百分表的测量头接触衔铁尾部,百分表指针或显示器数值为初始值,按表上的清零按钮为零值;
c、再将磁铁放入磁路托块的拱形腔内,使衔铁与铁芯吸合,并再用百分表测量头接触衔铁尾部,百分表指针或显示的数值即为继电器衔铁的行程值。
本发明利用电磁继电器中的衔铁在磁场作用下,衔铁的头端与铁芯吸合时,衔铁的尾端会抬起,其抬起的高度与衔铁头端与铁芯相吸合的距离相对应,即抬起的高度与衔铁与铁芯吸合行程相对应,这种检测衔铁动作的行程,检测直观快速,适合生产线上快速挑选行程合格的衔铁,剔除不合格衔铁在生产线上装配使用,以提高继电器的质量和可靠性。
附图说明
图1为本发明立体结构图,其中图1a为图1的A部放大图。
图2为磁路末闭合状态测量示意图,其中图2a为图2的B部放大图。
图3为磁路闭合状态测量示意图,其中图3a为图3的C部放大图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明实施例作进一步说明。
参看图1所示,衔铁行程检测装置包括百分表1、支架2、磁路托架7、底板8和侧板9,百分表的表杆垂直穿过表盘与支撑横杆3垂直固定,支架2的上端与支撑横杆3垂直连接,支架2的下端与水平的底板8垂直固定,底板8上放置磁路托架7,底板8的一侧设侧面靠板9,所述底板8为长方体,磁路托架7为正立方体,立方形体的表面粗燥度为0.8,立方体的上下表面平行度为1μm,侧面垂直度为1.5μm,所述靠板9与磁路托架7的接触面的粗燥度为0.8,垂直度为1.5μm,以提高测量精和可靠性。
参看图1a所示,磁路托架7中间设纵向水平槽15,水平槽下为圆弧拱形腔16,磁路托架7的上表面的前侧设二条与所述水平槽15相垂直的卡槽19。所述的水平槽15和圆弧拱形腔16相连通用来放置继电器的磁路组件,如图1a、图2 a、图3 a所示,磁路组件的轭铁6头端放置在水平槽15上,L形轭铁6的头端宽度比水平槽15宽,因此是搁在水平槽15上,而L形轭铁6的尾端宽度比水平槽15宽度小,因此L形轭铁6尾部的伸进圆弧形拱形腔16内,并用水平槽的两边夹紧,设在磁路托架7前侧面上二相平行的卡槽19与轭铁6头端底面的凸块13相对应卡扣住,使搁放在底板8上的磁路托块7的前后左右都被夹住卡紧,在受到表头4向下移压时,不上下左右位移,以使测量数值精确可靠。衔铁5的尾部设凸包14搭在轭铁6的头端,百分表测量头4与衔铁5尾部的凸包14对准,通过移动磁路托架7沿侧面靠板9移动调整测量点与测量头4相对准。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宁波金海电子有限公司,未经宁波金海电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210002803.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种量子点荧光免疫层析高灵敏定量检测的方法
- 下一篇:一种不限层压裂工艺方法