[发明专利]探针呈矩阵分布的金属面壁厚检测仪及其测量方法

权利要求书

1.探针呈矩阵分布的金属面壁厚检测仪，包括探针组、采集器及检测电路，其特征在于所述的探针组由多个呈矩阵分布的探针构成，探针为柱状电极，用于测试金属的壁厚；所述的补偿试块设置在被测管道的表面，其一端与被测管道紧密连接，用于腐蚀试片的温度补偿；所述的激励信号电极，用于提供激励信号；所述的探针通过连接器与采集器连接；所述采集器包括：壳体、连接器接口及通讯线接口，采集器与上位机进行通讯连接；检测电路设置在电路板上，电路板设于壳体密闭空间内；所述检测电路包括：柱状电极的电极间被测金属的电阻及补偿试块电阻，二者串联后与恒流源相连，在被测金属的电阻及补偿试块电阻上产生的电压信号采用差分输入的方式分别送至第1放大器及第2放大器的输入端，第1放大器及第2放大器的输出信号经再次放大、调制及A/D转换后与中央处理器的信号输入端相连，中央处理器根据输入信号的大小控制恒流源的输出，通过通讯单元与上位计算机进行通讯连接；所述被测金属、柱状电极及补偿试块为同种金属材质。

2.探针呈矩阵分布的金属面壁厚测量方法，其特征在于包括以下步骤：

（1）将被测金属及补偿试块，同时置于温度相同的检测介质中；

（2）对被测金属及补偿试块施加同一激励信号；获取被测金属及补偿试块两端的激励响应信号，计算被测金属的减薄量；

（3）根据上述减薄量求出金属的腐蚀速率。

3.按权利要求2所述的探针呈矩阵分布的金属面壁厚检测方法，其特征是：

通过公式：

 

计算被测金属的减薄量，其中U_F0、U_B0为被测金属和补偿试块的初次检测响应电压，H_F0为被测金属的原始管壁厚度，U_F、U_B为被测金属和补偿试块的正常检测时响应电压，H_F为被测金属单元的当前管壁厚度，整个矩阵测量，可得整个矩阵平面的腐蚀情况。