[发明专利]基于FPGA的电能质量多指标数据处理模块无效
申请号: | 201210000961.3 | 申请日: | 2012-01-04 |
公开(公告)号: | CN102565584A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 李国栋;周胜军;王同勋;安哲;刘颖英;罗开信;张树民;郭浩;崔健;刘美静 | 申请(专利权)人: | 天津市电力公司;中国电力科学研究院 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人: | 王来佳 |
地址: | 300010*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 fpga 电能 质量 指标 数据处理 模块 | ||
1.一种基于FPGA的电能质量多指标数据处理模块,其特征在于:由FPGA芯片构成,在该FPGA内设有用于存储采样数据的SRAM存储器、正弦表、余弦表、两个实部运算乘法器、两个虚部运算乘法器、一个实部加法器、一个虚部加法器和DPRAM存储器,SRAM存储器的输出端分别连接到两个实部运算乘法器、两个虚部运算乘法器的一个输入端,同时SRAM存储器的采样数据送入到DPRAM存储器的采样数据存储区,两个实部运算乘法器的另一个输入端分别与正弦表相连接,两个虚部运算乘法器的另一个输入端分别与余弦表相连接,两个实部运算乘法器的输出端与实部加法器相连接,两个虚部运算乘法器的输出端与虚部加法器相连接,实部运算加法器和虚部运算加法器的输出端构成一个复数并存放到DPRAM中的DFT结果存储区,该DPRAM包括两个DFT结果存储区和采样数据存储区,DPRAM中的两个存储区共同输出到DSP中进行电能质量分析处理。
2.根据权利要求1所述的基于FPGA的电能质量多指标数据处理模块,其特征在于:所述的SRAM存储器采用乒乓双缓冲区结构,每个缓冲区存储10周波采样数据。
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