[发明专利]电容检测装置有效
申请号: | 201210000835.8 | 申请日: | 2012-01-04 |
公开(公告)号: | CN102590635A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 尾屋隼一郎 | 申请(专利权)人: | 阿尔卑斯电气株式会社 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 刘建 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容 检测 装置 | ||
1.一种电容检测装置,其特征在于,
具备:
静电电容元件,其根据周围的状况,使静电电容发生变化;
电荷读取机构,其读取所述静电电容元件的电荷;
积分器,其对自所述电荷读取机构传输的读取电荷进行积分而转换为电压信号;
偏移调整电路,其从自所述电荷读取机构向所述积分器传输的电荷中去除偏移;和
控制电路,其控制所述偏移调整电路的动作,
所述偏移调整电路具备:
可变电容元件,其由多个电容元件构成,且通过对被并联连接于电荷传输线路的电容元件个数进行切换来设定为规定电容值,其中,所述电荷传输线路形成在所述电荷读取机构与所述积分器之间;和
调整用电容元件,其相对于所述电荷传输线路与所述可变电容元件并联连接,且具有与构成所述可变电容元件的电容元件的最小值对应的电容值,
所述控制电路,
驱动所述可变电容元件,以使得每当所述电荷读取机构向所述积分器进行电荷传输时,就由所述可变电容元件进行偏移去除;且驱动所述调整用电容元件,以使得在M次反复由所述可变电容元件进行偏移消除的期间,仅N次由所述调整用电容器进行偏移去除,其中,M>N,M、N为自然数。
2.根据权利要求1所述的电容检测装置,其特征在于,
所述可变电容元件与所述调整用电容元件形成在一个集成电路内。
3.根据权利要求1所述的电容检测装置,其特征在于,
所述可变电容元件的驱动次数M和所述调整用电容元件的驱动次数N被预先确定,以使得由所述调整用电容元件来吸收由所述可变电容元件所致的偏移误差。
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