[发明专利]质量分析装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种将用液相色谱仪、气相色谱仪的柱在时间方向上分离出的试样成分依次进行离子化并进行质量分析的质量分析装置，特别是涉及一种具有MS/MS(＝MS²)分析功能的质量分析装置，该MS/MS(＝MS²)分析功能是将具有特定的质量(严格地说是m/z)的离子作为前体离子而使其分裂，对由此生成的产物离子进行质量分析。

背景技术

在气相色谱质量分析装置(GC/MS)、液相色谱质量分析装置(LC/MS)中，将用GC或者LC的柱在时间方向上分离出的试样成分依次导入到质量分析装置(MS)，在将各成分分别进行离子化之后进行质量分离并检测。在此，着眼于特定的时刻而用横轴表示质量、用纵轴表示强度，由此制作质谱。另外，着眼于特定的质量而用横轴表示时间、用纵轴表示强度，由此制作色谱图(质量色谱图)。另外，通过将它们进行整合，还能够制作以时间、强度(离子强度)、质量为轴的三维色谱图。

作为这种GC/MS、LC/MS的质谱仪(MS)，存在使用了MSⁿ(n为2以上的整数)型的质量分析装置的质谱仪，该MSⁿ型的质量分析装置将具有特定的质量的离子作为前体离子而使其分裂，并对由此生成的产物离子进行质量分析。并且，在MSⁿ型的质量分析装置中，存在一种具备自动MSⁿ分析功能的质量分析装置，该自动MSⁿ分析功能是基于MS^n-1分析的结果来自动选择前体离子并执行MSⁿ分析(例如，参照专利文献1)。

在使用了这种具有自动MSⁿ分析功能的质量分析装置的GC/MS、LC/MS中，例如，在将来自GC、LC的柱的洗脱液依次导入到MS之后，一边反复执行MS(＝MS¹)分析，一边制作与一个或者多个质量有关的色谱图。而且，在该色谱图上的信号强度满足规定的条件的时间点、例如图6中的t1、t2那样超过预定的阈值的时间点，提取具有与该色谱图对应的质量的离子来作为前体离子并进行MS/MS分析。另外，优选尽可能地增加作为前体离子而提取的离子的量以获得S/N比高的MS/MS谱，因此还存在以下方法：如图7那样，在超过上述阈值之后，在等到色谱图的峰顶出现之后进行前体离子的提取。

专利文献1：日本特开2010-19655号公报

发明内容

发明要解决的问题

如上所述，为了获得S/N比高的MS/MS谱，期望尽可能大量地提取前体离子来进行MS/MS分析。但是另一方面，在四极滤质器、三维四极型离子阱等质量分析器中，如果所导入的离子的量过多，则由于空间电荷效果的影响而导致质量分离性能降低，结果是有时不能获得高品质的MS/MS谱。

本发明是鉴于上述问题点而完成的，其目的在于，在与色谱仪相结合地使用、能够伴随前体离子的筛选和分裂操作自动执行MS/MS分析的质量分析装置中，能够对适当量的前体离子进行MS/MS分析。

用于解决问题的方案

为了解决上述问题而完成的本发明所涉及的质量分析装置是一种将用色谱仪的柱在时间方向上分离出的试样成分依次导入到离子化部并进行质量分析的质量分析装置，其特征在于，具备：

a)MS分析执行单元，其对由上述离子化部生成的离子反复执行MS分析；

b)色谱图制作单元，其根据上述MS分析的结果来制作表示预定的质量范围内的离子强度随时间的变化的色谱图；

c)定时确定单元，其基于上述色谱图上的信号强度来确定MS/MS分析的执行定时；以及

d)MS/MS分析执行单元，其按照由上述定时确定单元确定的执行定时，将由上述离子化部生成的离子中的属于上述质量范围的离子作为前体离子来执行MS/MS分析，

其中，上述定时确定单元将上述色谱图上的信号强度超过预定的下限值之后达到预定的上限值的时间点、或者超过上述下限值之后没有达到上述上限值就到达峰顶的时间点确定为上述MS/MS分析的执行定时。

关于上述定时确定单元所使用的上限值和下限值，既可以设为对质量分析装置唯一设定的值，也可以设为能够由用户输入设定任意的值。另外，也可以由用户输入设定色谱仪和/或质量分析装置的分析条件，由此在装置侧自动设定与该分析条件相应的恰当的上限值和下限值。