[发明专利]成像探头以及获得位置和/或方向信息的方法有效
| 申请号: | 201180073282.2 | 申请日: | 2011-09-06 | 
| 公开(公告)号: | CN103945772A | 公开(公告)日: | 2014-07-23 | 
| 发明(设计)人: | 罗尔夫·汉克尔;埃利塞奥·温图拉·索宾利诺·帕蒂诺;罗伯特·文·奥芬贝格·斯威尼;艾伦·邓巴 | 申请(专利权)人: | 伊卓诺股份有限公司 | 
| 主分类号: | A61B8/08 | 分类号: | A61B8/08;G01B7/00;G01R33/02;A61B19/00;A61B5/06 | 
| 代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 吴开磊 | 
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 成像 探头 以及 获得 位置 方向 信息 方法 | ||
1.一种获得关于磁性部件(8)相对于磁力检测器(5)的位置和/或方向的信息的方法,所述磁性部件(8)和所述磁力检测器(5)相对于静态次级磁场能够彼此独立地移动,所述方法包括以下步骤:
-在存在所述磁性部件(8)的磁场和所述静态次级磁场两者的组合的情况下,至少在与所述磁力检测器(5)空间相关联的第一位置和第二位置处,基本上同时地测量磁场的强度和/或方向,所述第二位置与所述第一位置相隔开;以及
-将所述测量的结果组合,以在计算上消除所述次级磁场的影响,并导出关于所述磁性部件(8)的位置和/或方向的信息。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
在至少一个所述位置所测量的磁场的强度和/或方向用作所述次级磁场的强度和/或方向的直接估计。
3.一种获得关于磁性部件(8)相对于磁力检测器(5)的位置和/或方向的信息的方法,所述磁性部件(8)和所述磁力检测器(5)相对于静态次级磁场能够彼此独立地移动,所述方法包括以下步骤:
-在存在所述磁性部件(8)的磁场和所述静态次级磁场两者的情况下,基本上同时地测量至少在与所述磁力检测器(5)空间相关联的第一位置处的磁场的强度和/或方向以及借助于所述磁力检测器(5)中所包括的惯性测量单元测量所述磁力检测器(5)的加速度和/或方向;以及
-将所述测量的结果组合,以在计算上消除所述次级磁场的影响,并导出关于所述磁性部件(8)的位置和/或方向的信息。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,
还在与所述磁力检测器(5)空间相关联的第二位置处测量所述磁场的强度和/或方向,所述第二位置与所述第一位置隔开,并且
所述测量结果被组合,以在计算上消除所述次级磁场的影响,并导出关于所述磁性部件(8)的位置和/或方向的信息。
5.根据权利要求1、2和4中任一项所述的方法,其特征在于,
还在与所述磁力检测器(5)空间相关联的第三位置处测量所述磁场,所述第三位置与所述第一位置和所述第二位置隔开,并且
所述测量的结果被组合,以在计算上消除所述次级磁场的影响,并导出关于所述磁性部件(8)的位置和/或方向的信息。
6.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,
从所述测量获得所述磁力检测器(5)由于其移动而导致的方向和/或位置的变化。
7.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,
所述磁性部件(8)的各个部分关于它们的位置和/或方向被单独地跟踪。
8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,
在所述第一位置处,测量所述磁场在至少两个线性独立空间方向上的分量。
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,
所述磁力检测器(5)的测量结果被传送至基础单元(6)进行处理,所述基础单元(6)与所述磁力检测器(5)分离。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,
所述磁力检测器(5)从所述基础单元(6)接收信息。
11.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,
通过所述磁力检测器(5)的磁力计(14,15)测量在每个位置的磁场,每个磁力计(14,15)位于相应的位置处。
12.根据权利要求11所述的方法,其特征在于,
所述方法包括校准步骤,其中,针对增益、偏移和方向,对所述磁力检测器(5)的所述磁力计(14,15)进行校准,使得均匀磁场在所有磁力计(14,15)中产生基本相同的测量结果。
13.根据权利要求11或12所述的方法,其特征在于,
所述方法包括校准步骤,其中,在均匀磁场中,对所述磁力检测器(5)的所述磁力计(14,15)进行校准,以获得所述磁力检测器(5)的所述磁力计(14,15)的相对空间位置。
14.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,
所述磁力检测器(5)与用于对患者组织的至少一部分成像的成像探头(2)是一体的或能够移除地附接于所述成像探头。
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