[发明专利]彩色摄像元件、摄像装置及摄像程序

说明书

技术领域

本发明涉及一种彩色摄像元件、摄像装置及摄像程序，尤其涉及一种包括相位差检测用像素的彩色摄像元件、摄像装置及摄像程序。

背景技术

在搭载于数字相机等摄像装置的固体摄像元件中，为提高AF（自动对焦）性能，存在将固体摄像元件受光面上形成的多个像素中的部分像素作为相位差检测用像素的结构（例如参照专利文献1至7）。

相位差检测用像素例如如下述专利文献1至7所述，由搭载了成对的同色滤光片的相邻的两个像素构成，设有与设置在普通像素的遮光膜开口相比分别较小的遮光膜开口。进一步，成对的一个相位差检测用像素上设置的遮光膜开口向离开另一个相位差检测用像素的方向（例如左侧）偏心地设置，另一个相位差检测用像素的遮光膜开口向相反方向（例如右侧）偏心地设置。

由摄像装置进行AF动作时，从固体摄像元件的相位差检测用像素读出信号，根据遮光膜开口向右侧偏心的像素的检测信号和向左侧偏心的像素的检测信号来求出焦点的偏离量，调整摄影镜头的焦点位置。

该AF动作在相位差检测用像素越多时精度越高，在对普通的被摄体图像进行正式摄影的情况下，相位差检测用像素的遮光膜开口小、灵敏度低，因此存在无法与普通像素同样进行处理的问题。

因此，当从全部像素读出信号并生成被摄体图像时，需要对相位差检测用像素的检测信号进行与普通像素的灵敏度相同等程度的增益校正，或者将相位差检测用像素作为缺陷像素处理，利用周围的普通像素的检测信号进行插值运算校正。

专利文献1：日本特开2000-156823号公报

专利文献2：日本特开2007-155929号公报

专利文献3：日本特开2009-89144号公报

专利文献4：日本特开2009-105682号公报

专利文献5：日本特开2010-66494号公报

专利文献6：日本特开2008-312073号公报

专利文献7：特许第3592147号公报

发明内容

发明所要解决的课题

对于相位差检测用像素，在利用周围的普通像素的检测信号进行插值运算校正的情况下，有时因相位差检测用像素的位置不同而使插值精度变差，从而使画质变差。

本发明为解决上述问题而提出，其目的在于提供一种可提高相位差检测用像素的插值精度的彩色摄像元件、摄像装置及摄像程序。

解决课题所用的方法

为解决上述问题，技术方案1所述的发明的彩色摄像元件的特征在于，具有：摄像元件，包括排列于水平方向及垂直方向上的多个光电转换元件；滤色器，设于由上述多个光电转换元件构成的多个像素上，并重复配置有将第一排列图案和第二排列图案以点对称方式配置而得到的6×6像素的基本排列图案；其中，上述第一排列图案中，与最有助于获得亮度信号的第一颜色对应的第一滤光片配置在3×3像素的正方排列的四角及中央的像素上，与不同于上述第一颜色的第二颜色对应的第二滤光片配置在上述正方排列的上述水平方向上的中央行上，与不同于上述第一颜色及上述第二颜色的第三颜色对应的第三滤光片配置在上述正方排列的上述垂直方向上的中央行上；上述第二排列图案中，上述第一滤光片的配置与上述第一排列图案相同，且将上述第二滤光片的配置与上述第三滤光片的配置进行了对换；及相位差检测用像素，配置在构成上述基本排列图案的两组上述第一排列图案及上述第二排列图案中的、上述垂直方向上排列的至少一组上述第一排列图案及上述第二排列图案的四角中的一个角部所对应的上述像素的位置。

根据本发明，由于形成为具有相位差检测用像素的结构，其中该相位差检测用像素配置在构成基本排列图案的2组第一排列图案及第二排列图案中的、垂直方向上排列的至少一组第一排列图案及第二排列图案的四角中的一个角部所对应的上述像素的位置，因此可提高相位差检测用像素的插值精度。

此外，如技术方案2所述，也可以是如下结构，在上述相位差检测用像素上设有遮光单元，该遮光单元包括对该像素的部分区域进行遮光而使光透过其他区域的第一遮光膜或对该像素的一部分进行遮光而使光透过与上述第一遮光膜透过的区域成对的区域的第二遮光膜。

并且，如技术方案3所述，也可以是如下结构，上述遮光单元中的上述第一遮光膜对像素的水平方向上的左半部分区域进行遮光，上述第二遮光膜对像素的水平方向上的右半部分区域进行遮光。