[发明专利]分配测量间隙的方法和基站

权利要求书

1. 一种在基站中用于将测量间隙重复周期MGRP内的测量间隙分配到所述基站当前在服务的用户设备UE的方法，所述方法包括：

-   相对于多个可能测量间隙在所述MGRP内的时间起点和持续时间，识别(100)在所述MGRP内的所述多个可能测量间隙，

-   为所述识别的测量间隙确定(120)在所述MGRP期间相对于所述识别的测量间隙的时间起点，由于所述识别的测量间隙而将受影响的混合自动请求重发HARQ过程的数量，

-   根据在所述MGRP期间将受影响的HARQ过程的数量，将所述识别的测量间隙分级(130)，以及

-   基于所述等级，将所述识别的测量间隙分配(140)到所述UE。

2. 如权利要求1所述的方法，还包括先将影响最低数量的HARQ过程的所述识别的测量间隙分配到UE，之后分配影响第二最低数量的HARQ过程的所述下一识别的测量间隙到又一被服务UE，直至所有被服务UE分配有测量间隙。

3. 如权利要求1或2所述的方法，还包括获得用于所述UE的调度优先级，其中具有最高调度优先级的所述UE分配有影响所述最低数量的HARQ过程的所述识别的测量间隙，并且所述剩余UE相对于调度优先级分配有降序的测量间隙，使得具有最低调度优先级的所述UE分配有所述可用识别的测量间隙中影响最高数量的HARQ过程的所述识别的测量间隙。

4. 如权利要求1-3任一项所述的方法，还包括将相应间隙偏移定义(110)为从所述MGRP的开始到所述多个可能识别的测量间隙的每个间隙的开始的时间，其中通过将所有比特设成“0”来初始化可能间隙偏移的位图，其中每个比特对应于一个间隙偏移，以及在分配每个识别的测量间隙到UE时，分配对应的间隙偏移，并且将在位图中的其比特设成“1”。

5. 如权利要求4所述的方法，其中间隙偏移和所述位图中对应比特的数量等于所述MGRP中子帧的数量。

6. 如权利要求4或权利要求5所述的方法，还包括在分配有对应于所述位图中的以前设成“1”的比特的识别的测量间隙的UE不再由所述基站服务时，将所述比特设成“0”。

7. 如权利要求4-6任一项所述的方法，其中在所述基站服务于新UE时，所述方法还包括在所述位图中搜索以便查找设成“0”的比特，并且在找到此类比特时，将对应的间隙偏移和识别的测量间隙分配到所述新UE，并且将所述比特设成“1”，以及其中执行搜索，从而先分配影响最小数量的HARQ过程的所述测量间隙。

8. 如权利要求3-7任一项所述的方法，其中重新获得所述调度优先级，并且重新分配所述测量间隙到所述UE，使得具有最高调度优先级的UE分配有影响最低数量的HARQ过程的所述测量间隙，并且将所述位图中的所述对应比特设成“1”，以及将对应于空测量间隙的比特设成“0”以便在所述UE之间更新所述测量间隙分配。

9. 一种基站(400)，适用于将测量间隙重复周期MGRP内的测量间隙分配到所述基站(400)当前在服务的用户设备(421-425)，所述基站(400)包括适用于执行以下操作的处理单元(410)：

-   识别所述MGRP内的多个可能测量间隙，

-   为所述识别的测量间隙确定在所述MGRP期间相对于所述识别的测量间隙的时间起点，由于所述识别的测量间隙而将受影响的混合自动请求重发HARQ过程的数量，

-   根据在所述MGRP期间将受影响的HARQ过程的数量，将所述识别的测量间隙分级，以及

-   基于所述等级，将所述识别的测量间隙分配到所述UE (421-425)。

10. 如权利要求8所述的基站(400)，其中所述处理单元(410)还适用于先将影响最低数量的HARQ过程的所述识别的测量间隙分配到UE，并且之后分配影响第二最低数量的HARQ过程的所述下一识别的测量间隙到又一UE，直至所有被服务UE分配有测量间隙。