[发明专利]用于确定夹紧位置的方法、计算机程序以及装置

权利要求书

1.一种方法，该方法包括：

获得包括至少一个对象的至少一个图像；

分析所述至少一个图像以确定用于夹紧对象的至少一个夹紧位置；

根据预先确定的标准从所述至少一个夹紧位置选择夹紧位置；以及

将至少一个指令发送到夹具以在所选择夹紧位置处夹紧对象。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述分析与选择步骤还包括：

计算背景掩膜，所述背景掩膜是不作为所述图像中的任何对象的一部分的图像像素的掩膜；

计算对象掩膜，所述对象掩膜是作为即将夹紧的所述对象的一部分的图像像素的掩膜；

计算夹具掩膜，所述夹具掩膜是与所述夹具的夹紧部分相对应的图像像素的掩膜；

计算夹紧区域掩膜，所述夹紧区域掩膜是落入所述夹具内部的图像像素的掩膜；

在至少一个位置处将所述夹具掩膜重叠在所述背景掩膜上；

计算所述夹具掩膜与所述背景掩膜在所述至少一个位置处的重叠；

在至少一个位置处将所述夹紧区域掩膜重叠在所述对象掩膜上；

计算所述夹紧区域掩膜与所述对象掩膜在所述至少一个位置处的重叠；以及

根据所述重叠计算来选择夹紧位置。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述方法还包括：

向所述至少一个图像中的每个像素分配与所述像素属于所述对象的可能性相对应的值。

4.根据权利要求2或3所述的方法，还包括：

根据计算所述夹具掩膜与所述背景掩膜在至少一个位置处的所述重叠，分配用于所述夹具掩膜与所述背景掩膜在至少一个位置处的所述重叠的第一品质因数；

根据计算所述夹紧区域掩膜与所述对象掩膜在至少一个位置处的所述重叠，分配用于所述夹紧区域掩膜与所述对象掩膜的所述重叠的第二品质因数；以及

根据所述第一品质因数与第二品质因数选择所述夹紧位置。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，根据所述第一品质系数与第二品质系数选择所述夹紧位置还包括：

选择所述第一品质因数与第二品质因数的乘积最高的夹紧位置。

6.根据权利要求5所述的方法，其中根据所述第一品质系数与第二品质系数选择所述夹紧位置还包括：

设置用于即将选择的所述夹紧位置的所述第一品质因数的最小值。

7.根据权利要求2到6中任一项所述的方法，还包括：

计算与所述夹具的不同位置相对应的多个夹具掩膜以及夹紧区域掩膜。

8.根据权利要求2到7中任一项所述的方法，其中，对于一组可能的夹具位置，预先计算所述夹紧掩膜与所述夹紧区域掩膜。

9.根据权利要求2到7中任一项所述的方法，其中，对于一组可能的夹具位置，实时计算所述夹紧掩膜与所述夹紧区域掩膜。

10.根据权利要求2到9中任一项所述的方法，其中，计算掩膜的所述重叠还包括：

将所述夹具掩膜分割成夹具掩膜部分；

计算夹具掩膜部分与所述背景掩膜的所述重叠；

通过将利用第一夹具掩膜部分所计算的值，移动每个其它夹具掩膜部分相对于所述夹具掩膜中的所述第一夹具掩膜部分的偏移量来计算用于每个其它夹具掩膜部分的重叠；以及

计算所述整个夹具掩膜与所述背景掩膜的重叠，作为对于所述夹具掩膜部分所计算的所述重叠的和。

11.根据权利要求2到10中任一项所述的方法，其中，计算所述掩膜的所述重叠还包括：

将所述夹紧区域掩膜分割成夹紧区域掩膜部分；

计算所述夹紧区域掩膜部分与所述对象掩膜的所述重叠；

通过将利用第一夹紧区域掩膜部分所计算的值，移动每个其它夹紧区域掩膜部分相对于所述夹紧区域掩膜中的所述第一夹紧区域掩膜部分的偏移量来计算用于每个其它夹紧区域掩膜部分的重叠；以及

计算所述整个夹紧区域掩膜与所述对象掩膜的重叠，作为对于所述夹紧区域掩膜部分所计算的所述重叠的和。

12.根据权利要求2到9中任一项所述的方法，其中，将利用快速傅里叶变换（FFT）的卷积用于计算所述重叠。

13.根据权利要求1到12中任一项所述的方法，其中，使用现场可编程门阵列（FPGA）来执行所述步骤中的一些或全部。