[发明专利]介质厚度检测装置以及自动交易装置有效
| 申请号: | 201180066628.6 | 申请日: | 2011-11-24 |
| 公开(公告)号: | CN103339662A | 公开(公告)日: | 2013-10-02 |
| 发明(设计)人: | 麦健忠 | 申请(专利权)人: | 日立欧姆龙金融系统有限公司 |
| 主分类号: | G07D7/16 | 分类号: | G07D7/16;B65H7/06;G01B7/00;G01B7/06;G07D7/04 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 徐冰冰;黄剑锋 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 介质 厚度 检测 装置 以及 自动 交易 | ||
1.一种介质厚度检测装置,其特征在于,具备:
基准辊部,将沿规定的旋转轴旋转的基准辊沿着上述旋转轴方向无间隙地排列;
探测辊部,无间隙地排列有探测辊,该探测辊随着各上述基准辊的旋转而从动旋转,并用于探测纸张类的厚度;
输送部,将上述纸张类输送至上述基准辊部与上述探测辊部之间;
传感器部,与上述探测辊部相比,形成上述纸张类的输送方向的形状比主扫描方向长的形状,并通过设置于各上述探测辊的上方的多个检测用线圈以规定的频率振荡来产生上述纸张类的检测用交流磁场,通过磁场的变化来检测所产生的上述检测用磁场内的辊位移量;以及
计算部,根据通过上述传感器部所检测出的磁场的变化,计算上述纸张类的位移量。
2.根据权利要求1所述的介质厚度检测装置,其特征在于,
上述检测用线圈分别构成为设于各上述探测辊的上方的各上述检测用线圈的面积相同而匝数不同,
上述计算部具有:第一电路部,将低频率区域从上述检测用线圈的振荡输出截断;第二电路部,对来自上述第一电路部的输出进行包络检波;存储部,预先存储各上述检测用线圈的基准位移量;补偿部,通过上述基准位移量对所输送的上述纸张类的位移量进行补偿,
上述第一电路部的截止频率被设定为低于上述第二电路部的截止频率,上述第二电路部的截止频率被设定为低于各上述检测用线圈的不同振荡频率的差分。
3.根据权利要求1所述的介质厚度检测装置,其特征在于,
上述传感器部由积层多层基板构成,各上述传感器部具有产生部,该产生部具备线圈并由上述线圈产生交流磁场,其中,在上述积层多层基板的各层形成有作为传感器的一部分的传感器用图形,形成于各层的上述传感器用图形的一端通过分别形成于上层和下层的传感器用图形连接,由此,通过各层的图形和微导电孔构成该线圈。
4.一种介质厚度检测装置,其特征在于,具备:
基准辊部,将沿规定的旋转轴旋转的基准辊沿着上述旋转轴方向无间隙地排列;
探测辊部,无间隙地排列有探测辊,该探测辊随着各上述基准辊的旋转而从动旋转,并用于探测纸张类的厚度;
输送部,将上述纸张类输送至上述基准辊部与上述探测辊部之间;
传感器部,通过设于各上述探测辊的上方的多个检测用线圈以规定的频率振荡来产生上述纸张类的检测用交流磁场,用于通过磁场的变化来检测所产生的上述检测用磁场内的辊位移量,并沿着上述纸张类的输送方向,将多个传感器配置于满足上述探测辊部的上述纸张类的输送方向的长度的范围内;以及
计算部,根据通过上述传感器部所检测出的磁场的变化,计算上述纸张类的位移量。
5.根据权利要求4所述的介质厚度检测装置,其特征在于,
构成上述传感器部的各传感器被分为第一通道部和第二通道部,该第一通道部和第二通道部为针对在上述传感器的排列方向上不邻接的非邻接部分所单独划分的两个非邻接组,上述计算部以对来自上述第一通道部和上述第二通道部的振荡电压的输出进行交替切换的方式进行控制。
6.一种自动交易装置,其特征在于,具备权利要求1中所述的介质厚度检测装置。
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