[发明专利]激光治疗装置、激光治疗系统和判定方法无效
申请号: | 201180064998.6 | 申请日: | 2011-12-22 |
公开(公告)号: | CN103328043A | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 箱守志穗;荒井恒宪;伊藤亚莉沙;高桥芽意 | 申请(专利权)人: | 索尼公司;学校法人庆应义塾 |
主分类号: | A61N5/06 | 分类号: | A61N5/06;A61B18/20;A61M25/01 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光治疗 装置 系统 判定 方法 | ||
1.一种激光治疗装置,包括:
连接部,连接至激光导管的第二端部,所述激光导管包括第一端部、所述第二端部和电极,激光束从所述第一端部的顶端表面入射和出射,所述电极沿所述第一端部的轴方向被设置在所述第一端部的外围;
发射单元,被配置为向连接至所述连接部的所述第二端部发射激光束;
光学状态检测单元,被配置为:
使从连接至所述连接部的所述第二端部反射的光入射,以及
检测所入射的反射光的光学状态;
电气状态检测单元,被配置为经由连接至所述连接部的所述第二端部来检测所述电极的电气状态;以及
判定单元,被配置为基于所检测的光学状态和电气状态来判定所述第一端部与通过使用所述激光导管治疗的治疗目标组织之间的接触状态。
2.根据权利要求1所述的激光治疗装置,其中,
所述光学状态检测单元被配置为检测所述所入射的反射光的强度,
所述电气状态检测单元被配置为检测所述电极的电位,以及
所述判定单元被配置为:
在所检测的光强度低且所检测的电位低的情况下,判定所述第一端部与所述治疗目标组织之间的接触状态是正常的,
在所述所检测的光强度低且所述所检测的电位高的情况下,判定所述第一端部被埋在所述治疗目标组织中,以及
在所述所检测的光强度高且所述所检测的电位高的情况下,判定所述激光导管沿着所述治疗目标组织与所述治疗目标组织接触。
3.一种激光治疗系统,包括:
激光导管,包括:
第一端部,激光束从所述第一端部的顶端表面入射和出射;
第二端部;以及
电极,沿所述第一端部的轴方向被设置在所述第一端部的外围;
连接部,连接至所述激光导管的所述第二端部;
发射单元,被配置为向连接至所述连接部的所述第二端部发射激光束;
光学状态检测单元,被配置为:
使从连接至所述连接部的所述第二端部反射的光入射,以及
检测所入射的反射光的光学状态;
电气状态检测单元,被配置为经由连接至所述连接部的所述第二端部来检测所述电极的电气状态;以及
判定单元,被配置为基于所检测的光学状态和电气状态来判定所述第一端部与通过使用所述激光导管治疗的治疗目标组织之间的接触状态。
4.根据权利要求3所述的激光治疗系统,其中,
设置在所述激光导管上的所述电极是环形电极。
5.一种判定方法,包括:
向激光导管的第二端部发射激光束,所述激光导管包括第一端部、所述第二端部和电极,激光束从所述第一端部的顶端表面入射和出射,所述电极沿所述第一端部的轴方向被设置在所述第一端部的外围;
使从所述第二端部反射的光入射,并检测所入射的反射光的光学状态;
检测所述电极的电气状态;以及
基于所检测的光学状态和电气状态来判定所述第一端部与通过使用所述激光导管治疗的治疗目标组织之间的接触状态。
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