[发明专利]光学气体分析仪有效

专利信息
申请号: 201180063937.8 申请日: 2011-11-11
公开(公告)号: CN103492858B 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 米嘉尔·安纳托里维奇·马克斯尤坦科;舍盖依·法西里维奇·涅普尼阿斯奇;苏菲亚·波里苏维纳·波哥迪纳;维亚切斯拉夫·维拉迪米罗维奇·克瑞博托夫 申请(专利权)人: 欧普托圣斯有限公司
主分类号: G01N21/3504 分类号: G01N21/3504;G01N21/03
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 魏小薇
地址: 俄罗斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 气体 分析 当中 所用 光学 区块
【权利要求书】:

1.一种光学气体分析仪,包括:

光学气体室,提供红外线辐射路径;

红外线辐射源,位于该光学气体室的入口处;及

红外线辐射侦测器,位于上述光学气体室的出口处;

控制组件,与该红外线辐射源及该红外线辐射侦测器耦接,其中

将该控制组件实现为能更改该红外线辐射源运作模式,并处理该侦测器所接收的红外线辐射,以展示取得的结果,

其特征在于

该光学气体室被实现为进行多重穿透与反射,并且能够在红外线辐射侦测器处集中从光学气体室的入口一路穿过光学气体室到光学气体室的出口的红外线辐射,其中

该红外线辐射侦测器为差动接收装置,该差动接收装置包括量测光压侦测器及参照光压侦测器,

上述接收装置包括其入口处的滤波器窗口以及滤镜,该滤镜位于能够根据上述光学气体室中的红外线辐射路径轨迹对测得的气体浓度结果的外部影响进行补偿的位置,而滤波器窗口和滤镜产生的光谱透射及反射特征分别与所量测气体的吸收光谱和该红外线辐射源的辐射光谱有关,其中

该红外线辐射源代表发光二极管类型的红外线脉波源,在该光学气体室的入口处产生具方向性的红外线辐射,且其开启/关闭负载比经由该控制组件而与上述接收装置的开启/关闭负载比具有关联性。

2.如权利要求1所述的光学气体分析仪,其特征在于:

帮助穿过的红外线辐射的集中的该光学气体室是由扁平镜及数量超过扁平镜数量的球状镜所构成,

该红外线辐射源被导向第一球状镜,

第一球状镜根据对应角度朝着该光学气体室的主光轴安置,并且能够经由镜面间的锯齿状轨迹传输辐射能,以在该扁平镜及该接收装置上产生辐射源的像,

其中,所述滤镜以45度的角度,朝向相互垂直(90度)的量测光压侦测器和参照光压侦测器的法线安装。

3.如权利要求1所述的光学气体分析仪,其特征在于:

帮助穿过的红外线辐射的集中的该光学气体室是由扁平镜及数量超过扁平镜数量的抛物线镜所构成,

该红外线辐射源被导向第一抛物线镜,

第一抛物线镜根据对应角度朝着该光学气体室的主光轴安置,并且能够经由镜面间的锯齿状轨迹传输辐射能,以在该扁平镜及该接收装置上产生辐射源的像,

其中,所述滤镜以45度的角度,朝向相互垂直(90度)的量测光压侦测器和参照光压侦测器的法线安装。

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