[发明专利]用于与上IC封装耦合以形成封装体叠层(PoP)组件的下IC封装结构以及包括这种下IC封装结构的PoP组件有效
| 申请号: | 201180060795.X | 申请日: | 2011-11-30 |
| 公开(公告)号: | CN103270587A | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
| 发明(设计)人: | S·F·王;W·K·罗;K·E·翁;A·S·王 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
| 主分类号: | H01L23/28 | 分类号: | H01L23/28;H01L23/02;H01L23/48 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈松涛;夏青 |
| 地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 ic 封装 耦合 形成 体叠层 pop 组件 结构 以及 包括 这种 | ||
技术领域
所公开的实施例总体上涉及集成电路器件,更具体而言,涉及集成电路封装的叠置。
背景技术
具有小形状因子的集成电路(IC)器件可以用于很多种类型的计算系统,例如,蜂窝电话、智能电话、平板电脑、电子阅读器件、笔记本电脑和膝上电脑以及其他手持或移动计算系统。一种用于实现小形状因子IC器件的解决方案是采用封装体叠层(PoP)架构,该架构大体包括叠置在下IC封装之上并与之电耦合的上IC封装。下IC封装可以包括设置在第一衬底或者其他管芯载体上的一个或多个IC管芯,也可能包括一个或多个额外部件。类似地,所述上IC封装可以包括设置在第二衬底上的一个或多个IC管芯(并且可能包括一个或多个其他部件)。在一些情况下,下IC封装可能是在一个制造设施处制造的,而上IC封装是在另一制造设施处制造的,之后需要将这两个IC封装机械及电气接合到一起。通过一个或多个互连将下IC封装电耦合到上IC封装,这些互连还可以提供这两个IC封装之间的机械耦合。
附图说明
图1A是示出了下IC封装结构的实施例的顶视图的示意图。
图1B是示出了沿图1A的B-B线截取的图1A的下IC封装的截面立视图的示意图。
图1C是示出了下IC封装结构的另一实施例的顶视图的示意图。
图1D是示出了下IC封装结构的另一实施例的截面立视图的示意图。
图1E是示出了下IC封装结构的另一实施例的截面立视图的示意图。
图1F是示出了下IC封装结构的另一实施例的截面立视图的示意图。
图1G是示出了下IC封装结构的另一实施例的截面立视图的示意图。
图1H是示出了下IC封装结构的另一实施例的截面立视图的示意图。
图1I是示出了下方IC封装结构的另一实施例的截面立视图的示意图。
图1J是示出了下IC封装结构的另一实施例的截面立视图的示意图。
图1K是示出了下IC封装结构的另一实施例的截面立视图的示意图。
图1L是示出了下IC封装结构的另一实施例的截面立视图的示意图。
图2A是示出了包括流动屏障的下IC封装的实施例的局部截面立视图的示意图。
图2B是示出了包括流动屏障的下IC封装的另一实施例的局部截面立视图的示意图。
图2C是示出了包括流动屏障的下IC封装的另一实施例的局部截面立视图的示意图。
图2D是示出了包括流动屏障的下IC封装的又一实施例的顶视图的示意图。
图2E是示出了包括流动屏障的下IC封装的又一实施例的顶视图的示意图。
图3是示出了封装体叠层(PoP)组件的实施例的截面立视图的示意图。
图4是示出了包括PoP组件的计算系统的实施例的截面立视图的示意图。
图5是示出了制造下IC封装结构以及封装体叠层组件的方法的实施例的方框图。
具体实施方式
公开了封装体叠层(PoP)组件的下集成电路(IC)封装结构的实施例。根据一些实施例,下IC封装结构包括插入体,其具有用于与上IC封装的配合端子耦合的焊盘。在其他实施例中,将密封剂材料设置到下IC封装内,可以将这一密封剂设置为邻近一个或多个IC管芯。在一些实施例中,可以使上IC封装与下IC封装耦合以形成PoP组件。在其他实施例中,将这样的PoP组件设置到主板或其他电路板上,或者其可以形成计算系统的一部分。还公开了制造上述下IC封装以及PoP组件的方法的实施例。
现在来看图1A和1B,其示出了下IC封装100的实施例。图1A中示出了下IC封装100的顶视图,而图1B中则示出了沿图1A的B-B线截取的截面立视图。可以使下IC封装100与上IC封装耦合以形成PoP组件,下文将更为详细地描述这样的PoP组件的实施例(例如,参考图3和所附文字)。
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