[发明专利]X射线成像设备

权利要求书

1.一种X射线成像设备，包括：

X射线源；

光栅，被配置为分割从X射线源照射的发散X射线；以及

检测器，被配置为检测由光栅分割并且通过样本的X射线，

其中，所述光栅包括使发散X射线通过的多个透明物体和遮挡发散X射线的多个不透明物体，以及

多条延长线彼此相交的聚焦位置和X射线源被布置在不同的位置，所述延长线中的每一条延长线是通过将中心线延长而形成的，所述中心线连接多个不透明物体中的每一个不透明物体的面向X射线源的X射线源侧的中心与多个不透明物体中的每一个不透明物体的面向检测器的检测器侧的中心。

2.根据权利要求1所述的X射线成像设备，其中，所述光栅被布置为使得通过在垂直于光轴的方向上移动X射线源所位于的位置而获得的位置对应于所述光栅的聚焦位置。

3.根据权利要求1所述的X射线成像设备，其中，所述光栅被布置为使得通过围绕光轴上的一个点旋转X射线源所位于的位置而获得的位置对应于所述光栅的聚焦位置。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的X射线成像设备，其中，

当所述多个不透明物体中的每一个不透明物体的中心线与进入所述多个不透明物体中的每一个不透明物体的X射线之间的角度为θ时，

θ大于0度并且小于20度。

5.根据权利要求4所述的X射线成像设备，其中，θ大于1度并且小于15度。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的X射线成像设备，其中

进入光栅的X射线被所述多个不透明物体中的每一个不透明物体的侧表面遮挡，以使得

由光栅分割的所有X射线在光栅的面向检测器的表面上的宽度小于透明物体在光栅的面向X射线源的表面上的宽度。

7.一种X射线成像设备，包括：

X射线源；

光栅，被配置为分割从X射线源照射的平行X射线；以及

检测器，被配置为检测由光栅分割并且通过样本的X射线的强度，

其中，所述光栅包括使平行X射线通过的多个透明物体和被配置为遮挡平行X射线的多个不透明物体，以及

中心线与进入不透明物体的X射线之间的角度大于0度且小于20度，所述中心线连接多个不透明物体中的每一个不透明物体的面向X射线源和面向检测器的各侧的中心。

8.根据权利要求7所述的X射线成像设备，其中，中心线与进入不透明物体的X射线之间的角度大于1度并且小于15度。

9.根据权利要求1-8中任一项所述的X射线成像设备，其中

当光栅的开口率被定义为以下描述的公式时，开口率大于或者等于5%并且小于50%：

D=(Ga-t×tanθ)/(Ga+Gb)

这里，D是所述开口率，Ga是透明物体在光栅的面向X射线源的表面上的宽度，t是光栅的厚度，Gb是不透明物体在光栅的面向X射线源的表面上的宽度，θ是不透明物体的中心线与进入不透明物体的X射线之间的角度。