[发明专利]用于测量粒子射束内的主流自旋矢量的矢量分量的自旋检波器装置有效

专利信息
申请号: 201180055161.5 申请日: 2011-11-16
公开(公告)号: CN103221836A 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 奥利弗·沙夫 申请(专利权)人: 施佩克斯表面纳米分析股份有限公司
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 北京中安信知识产权代理事务所(普通合伙) 11248 代理人: 张小娟
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 粒子 射束内 主流 自旋 矢量 分量 检波器 装置
【权利要求书】:

1.一种自旋检波器装置,用于具有粒子主流自旋取向的粒子射束(T)内主流自旋矢量的矢量分量的检波,该装置包括:

具有可切换线圈(5)的自旋旋转器(1),可切换线圈(5)具有一个轴向方向,并被取向设置为:粒子射束(T)沿着轴向方向贯穿可切换线圈(5);

在自旋旋转器(1)下游的偏转装置(7),该装置通过静电将粒子射束(T)的轨道偏转一定的偏转角度;

在偏转装置(7)下游的自旋检波器(9),对粒子射束(T)中主流自旋矢量分量的分量矢量进行检测,该分量矢量垂直于粒子射束(T)运动方向;和

与可切换线圈(5)连接的切换单元(15),该单元能够切换线圈(5)的励磁状态。

2.根据权利要求1所述的自旋检波器装置,其特征在于,其中自旋旋转器(1)具有一个静电透镜(3),可切换线圈(5)环绕静电透镜。

3.根据权利要求1或2所述的自旋检波器装置,其特征在于,其中连接在自旋旋转器(1)下游的偏转装置(7)产生静电的偏转。

4.根据权利要求1至3所述的自旋检波器装置,其特征在于,其中连接在自旋旋转器(1)下游的偏转装置(7)以90°的角度,静电地偏转粒子射束(T)的轨道。

5.根据权利要求1至4所述的自旋检波器装置,其特征在于,其中通过切换单元(15),贯穿可切换线圈(5)的电流的强度以及/或者符号是可调节的。

6.根据权利要求1至5所述的自旋检波器装置,其特征在于,其中磁轭(17)环绕自旋旋转器(1)的可切换线圈(5)。

7.根据权利要求1至6所述的自旋检波器装置,其特征在于,在该装置内,检波器(9)是同时对两个相互垂直的矢量分量进行检测的检波器。

8.根据权利要求6所述的自旋检波器装置,其特征在于,在该装置内,检波器(9)是莫特检波器。

9.一种采用权利要求1至8所述的自旋检波器装置对粒子束流(T)内主流自旋矢量的全部矢量分量进行检测的方法,通过检波器(9)先后测量主流自旋矢量的两个矢量分量,其中切换自旋旋转器(1)的测量线圈(5)在一个测量过程通过切换单元(15)切换进第一励磁状态,并在另一个测量过程中,切换进第二励磁状态。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,其中第一和第二励磁线圈的电流和/或流过线圈的电流符号是不同的。

11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,线圈(5)可以在第一励磁状态导通特定强度的电流,在第二励磁状态导通与第一励磁状态相同强度的电流,但是,与第一励磁状态的电流相比,该电流具有相反的符号。

12.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,线圈(5)可以在第一励磁状态下,导通电流大于零的特定强度的电流,并且在第二励磁状态下不导通电流。

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