[发明专利]III族氮化物发光器件无效
| 申请号: | 201180052905.8 | 申请日: | 2011-10-27 |
| 公开(公告)号: | CN103180973A | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
| 发明(设计)人: | M.J.格伦德曼恩;N.F.加德纳;W.K.戈伊茨;M.B.麦克劳林;J.E.埃普勒;F.A.利昂 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/12;H01L33/32;H01L21/02;H01S5/02;H01S5/183;H01S5/343;H01L33/10 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李亚非;汪扬 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | iii 氮化物 发光 器件 | ||
1. 一种方法,包括:
生长一种生长在衬底上的III族氮化物结构,该III族氮化物结构包括布置在n型区域和p型区域之间的发光层;
将该III族氮化物结构附着到载具;以及
移除该衬底,其中:
该衬底为RAO3(MO)n,其中R为三价阳离子Sc、In、Y和镧系元素其中之一;A为三价阳离子Fe(III)、Ga和Al其中之一;M为二价阳离子Mg、Mn、Fe(II)、Co、Cu、Zn和Cd其中之一;并且n为≥1的整数;
该衬底具有面内晶格常数a衬底;
该III族氮化物结构中的至少一个III族氮化物层具有体晶格常数a层;以及
[(|a衬底-a层|)/a衬底]*100%不大于1%。
2. 根据权利要求1的方法,其中:
该III族氮化物结构包括一种仅仅包括三元、四元和/或五元III族氮化物层的区域;以及
所述仅仅包括三元、四元和/或五元III族氮化物层的区域厚于2μm。
3. 根据权利要求1的方法,其中该衬底为ScAlMgO4。
4. 根据权利要求1的方法,其中该III族氮化物结构包括晶格匹配到该衬底的至少一个层。
5. 根据权利要求1的方法,其中该III族氮化物结构包括第一层,该第一层直接接触第二层,其中第一层和第二层之间的界面不具有极性电荷。
6. 根据权利要求5的方法,其中该第一层为Al0.06In0.17Ga0.77N并且该第二层为In0.14Ga0.86N。
7. 根据权利要求1的方法,其中生长包括生长布置在该衬底和该发光层之间的基底区域,该基底区域包括接近该衬底的第一层和接近该发光层的第二层,其中第一层的带隙大于第二层。
8. 根据权利要求7的方法,其中:
该衬底为ScAlMgO4;
该第一层为下述的其中之一:In0.14Ga0.86N;以及晶格匹配到衬底的四元AlxInyGa1-x-yN,组成x和y满足关系y=0.136+0.228*x,x+y≤1;以及
该第二层为下述的其中之一:Al0.06In0.17Ga0.77N、Al0.6In0.13Ga0.27N和四元层AlxInyGa1-x-yN,铟组成y在0.14和0.32之间,满足x=2*y-0.28。
9. 根据权利要求1的方法,其中生长包括生长布置在该衬底和该发光层之间的基底区域,该基底区域包括接近该衬底的第一层和接近该发光层的第二层,其中第一层的极化不同于第二层。
10. 根据权利要求9的方法,其中:
该衬底为ScAlMgO4;
该第一层为下述的其中之一:In0.14Ga0.86N;以及晶格匹配到衬底的四元AlxInyGa1-x-yN,组成x和y满足关系y=0.136+0.228*x,x+y≤1;以及
该第二层为下述的其中之一:GaN;InyGa1-yN,y<0.13;Al0.5In0.25Ga0.25N;晶格匹配到衬底的四元AlxInyGa1-x-yN层;和In0.29Al0.71N。
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