[发明专利]高电压测试装置有效

专利信息
申请号: 201180052839.4 申请日: 2011-11-02
公开(公告)号: CN103201643A 公开(公告)日: 2013-07-10
发明(设计)人: 大岩和之;八木大亮 申请(专利权)人: 矢崎总业株式会社
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12;H01B13/00
代理公司: 北京泛诚知识产权代理有限公司 11298 代理人: 陈波;朱弋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 电压 测试 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种高电压测试装置,其以同轴电缆作为检查对象,在上述同轴电缆的中心导体(芯线)与屏蔽导体之间施加高电压,进行有关电绝缘状态的测试。

背景技术

例如,在将收音机、电视等的无线装置的输入与天线相连接的情况下,通常使用同轴电缆。这类同轴电缆具有粗细一定的中心导体和屏蔽导体,该屏蔽导体配置为筒状,包围着上述中心导体的周围,并在其与中心导体之间夹着预定的绝缘材料。在车载收音机接收机等的输入与天线等连接的情况下,也使用这样的同轴电缆。

另外,如专利文献1所述,也有在同轴电缆的中心导体的一部分插入有电容器的情况。

另一方面,当用户将这种同轴电缆之类的电线用于各种用途时,为了保证电线的安全性和品质,需要实施电气检查。具体而言,需要由用户确认确保了同轴电缆的中心导体与屏蔽导体之间的绝缘性。而且,需要由用户在中心导体与屏蔽导体之间施加直流的高电压(例如1000V)来测量绝缘电阻,或者施加与商用交流电源同等频率(例如50Hz)的交流电压(例如振幅1000V)来确认其耐压没有问题。

另外,例如在专利文献2中,公开了用于监视配电盘中的电线的电绝缘材料的老化状态的绝缘监视装置。即,其公开了一种使用配置于配电盘内的天线来检测并监视随着绝缘老化导致的部分放电而发射出的电磁波的技术。

在先技术文献

专利文献1:日本特开2001-202836号公报

专利文献2:日本特开2005-265684号公报

发明内容

发明所要解决的课题

例如,在测量普通同轴电缆的绝缘电阻的情况下,能够通过将绝缘电阻测试仪的两个电极分别与检查对象的同轴电缆的中心导体以及屏蔽导体相连接,并对这些电极施加预定电压,从而简便地进行测试。

但是,在对如上所述的中心导体的一部分插入有电容器的同轴电缆进行测试的情况下,则存在发生各种问题的可能性。即,因为同轴电缆的长度方向的一端与另一端之间的直流电流由电容器隔离,所以,仅仅将绝缘电阻测试仪的两个电极连接到同轴电缆的一端的中心导体以及屏蔽导体时,将只能对从同轴电缆的一端到电容器的一端的范围内进行测试。因此,就需要在结束同轴电缆的一端的测试之后,将绝缘电阻测试仪两个电极切换连接到该同轴电缆的另一端的中心导体以及屏蔽导体并再次进行测试。

另外,在实施绝缘电阻测试和耐压测试等时,通常施加1000V左右的高电压。内置于同轴电缆中的电容器本身的耐压通常最大为50V左右。因此,当测试时操作人员连接错误时,或者同轴电缆本身的绝缘性能存在问题时,还会出现同轴电缆的电容器因施加了过大的电压而被击穿的可能性。

本发明即是鉴于上述现状而作出,其目的在于提供一种高电压测试装置,该装置即使在对内置有电容器的同轴电缆进行测试的情况下,也能够在不会击穿电容器的状态下,通过简单操作对电缆整体进行测试。

用于解决课题的手段

为了达到上述目的,本发明的高电压测试装置具有下述(1)~(4)的特征。

(1)一种高电压测试装置,该高电压测试装置以具有中心导体和屏蔽导体的同轴电缆为检查对象,通过在上述同轴电缆的中心导体与屏蔽导体之间施加高电压,进行有关电气绝缘状态的测试,上述屏蔽导体包围着上述中心导体的周围,在其与中心导体之间夹着预定的绝缘材料,其中,

上述高电压测试装置具有电缆连接部,该电缆连接部将输出高电压的测试仪的两个输出电极分别与作为检查对象的上述同轴电缆的中心导体以及屏蔽导体连接,

上述电缆连接部还具有:将上述同轴电缆的中心导体的长度方向的一端与另一端之间电气短路的芯线短路部;以及将上述同轴电缆的屏蔽导体的长度方向的一端与另一端之间电气短路的屏蔽线短路部。

(2)根据上述(1)所述的高电压测试装置,其中,上述高电压测试装置还具有时间常数电路,该时间常数电路连接在上述测试仪的输出与上述电缆连接部的输入之间,并包括至少一个电阻器以及至少一个电容器。

(3)根据上述(2)所述的高电压测试装置,其中,上述时间常数电路具有吸收异常高电压的电涌消除电路。

(4)根据上述(1)所述的高电压测试装置,其中,上述电缆连接部具有两个以上的同轴连接器,该同轴连接器用于分别与设置于作为检查对象的上述同轴电缆的长度方向的一端和另一端的两个连接器相连接。

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