[发明专利]测量电容的方法和用途有效
申请号: | 201180050244.5 | 申请日: | 2011-10-31 |
公开(公告)号: | CN103168230A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 马丁·赫斯特罗姆;达格·埃兰德松;波·马蒂亚松;乔金·拉尔森 | 申请(专利权)人: | 卡普森泽公司 |
主分类号: | G01N27/22 | 分类号: | G01N27/22;G01R27/26 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 周靖;郑霞 |
地址: | 瑞典比*** | 国省代码: | 瑞典;SE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 电容 方法 用途 | ||
1.一种测量具有电容(32)和电阻(31)的传感器的电容(C)的方法,所述传感器包括工作电极,所述工作电极被绝缘层涂覆,所述绝缘层具有布置到其的配体,从而在所述电极上形成亲和性表面,所述方法包括下列步骤:
-使所述电极与分析物接触;
-在第一时间段(t1)期间借助于电流源(20)将恒定的第一电流(I1)供应到所述传感器,直到在所述传感器两端建立的电位达到预定的值(V),以及
-同时对在所述传感器两端建立的所述电位(V)采样;
-在第二时间段(t2)期间借助于所述电流源(20)将恒定的第二电流(I2)供应到所述传感器,所述第二电流(I2)具有与所述第一电流(I1)相比相反的方向并具有与所述第一电流(I1)相同的绝对值,其中所述第二时间段(t2)等于所述第一时间段(t1)或等于所述第一时间段(t1)乘以倍数2,以及
-同时对在所述传感器两端建立的所述电位(V)采样;
-在第三时间段(t3)期间借助于所述电流源(20)将恒定的第三电流(I3)供应到所述传感器,所述第三电流(I3)具有与所述第一电流(I1)相比相同的方向并具有与所述第一电流(I1)相同的绝对值,其中如果所述第二时间段(t2)等于所述第一时间段(t1),则所述第三时间段(t1)为零,而如果所述第二时间段(t2)等于所述第一时间段(t1)乘以倍数2,则所述第三时间段(t3)等于所述第一时间段(t1),以及
-同时对在所述传感器两端建立的所述电位(V)采样;以及
-如果当包括所述时间段(t1、t2、t3)的周期结束时所述电位(V)返回到零,则通过响应于所述恒定电流(I1、I2、I3)的供应而由在所述传感器两端建立的所述电位(V)接收的电位曲线的倾角(B、D、F和H)来计算所述传感器的电容(C)。
2.如权利要求1所述的方法,其中当所述第三时间段(t3)结束时,如果在所述传感器两端建立的所述电位(V)不返回到零,则所述电容(C)被丢弃。
3.如权利要求1所述的方法,其中在电流供应的每个时间段(t1、t2、t3)期间多次执行所述采样。
4.如权利要求1所述的方法,其中所述电位曲线的至少一个倾角(B、H、F、H)用于确定误差条件,反之亦然。
5.如权利要求1所述的方法,其中从所述电位曲线的垂直部分(A、C、G、E、I)确定所述电极的所述电阻(31),且如果所述电阻(31)在所述恒定电流(I1、I2、I3)的连续供应之后改变,则所计算的相应的电容(C)被丢弃。
6.如权利要求5所述的方法,其中所述电阻(31)用于所述电极的识别。
7.一种根据权利要求1的方法的用于探测和量化配体和分析物之间的交互作用的用途。
8.如权利要求7所述的用途,还包括权利要求2-6中的任一项。
9.如权利要求7或8所述的用途,其中所述配体是抗体,且所述分析物是抗原。
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