[发明专利]用于检测提升构件中的裂缝形成的方法和设备

权利要求书

1.用于检测提升构件中的裂缝形成的方法，包括以下步骤：

-至少在所述提升构件的两个点处测量负载下的应力，

-比较测得的应力，以及

-当测得的应力彼此相差太多时产生警告信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过测量每个点处的对应变形来测量该点处的应力。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述提升构件的相对轻负载点处测得第一变形，并且在所述提升构件的相对重负载点处测得第二变形。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述提升构件的轴中测得所述第一变形，并且靠近附接至提升架的所述提升构件的外端测得所述第二变形。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，通过螺纹连接将所述提升构件安装在所述提升架上，并且靠近相对重负载的螺纹测得所述第二变形。

6.根据权利要求4中所述的方法，其特征在于，通过轴环将所述提升构件安装在所述提升架上，并且靠近所述轴环测得所述第二变形。

7.根据权利要求4中所述的方法，其特征在于，通过双轴环将所述提升构件安装在所述提升架上，靠近一个所述轴环测得所述第二变形，并且靠近另一所述轴环测得第三变形，同样地将所述第三变形与所述第一变形进行比较。

8.根据权利要求2-7中任一项所述的方法，其特征在于，光学地测量所述变形。

9.用于检测提升构件中的裂缝形成的设备，包括：

-至少布置在所述提升构件的两个点处以用于测量负载下的应力的装置；

-连接至所述测量装置以用于比较测得的应力的装置；以及

-连接至所述比较装置以用于当测得的应力彼此相差太多时产生警告信号的装置。

10.根据权利要求9中所述的裂缝检测设备，其特征在于，所述测量装置适于测量与所述应力对应的变形。

11.根据权利要求9或10所述的裂缝检测设备，其特征在于，第一测量装置布置在所述提升构件的相对轻负载点处，并且第二测量装置布置在所述提升构件的相对重负载点处。

12.根据权利要求11所述的裂缝检测设备，其特征在于，所述第一测量装置布置在所述提升构件的轴中，并且所述第二测量装置靠近附接至提升架的所述提升构件的外端而布置。

13.根据权利要求11中所述的裂缝检测设备，其特征在于，所述提升构件通过螺纹连接安装在所述提升架上，并且所述第二测量装置靠近相对重负载的螺纹而布置。

14.根据权利要求11中所述的裂缝检测设备，其特征在于，所述提升构件通过轴环安装在所述提升架上，并且所述第二测量装置靠近所述轴环而布置。

15.根据权利要求11中所述的裂缝检测设备，其特征在于，所述提升构件通过双轴环安装在所述提升架上，所述第二测量装置靠近一个轴环而布置，并且第三测量装置靠近另一轴环而布置，其中，所述比较装置适于将所述第三测量装置的测量和所述第一测量装置的测量进行比较。

16.根据权利要求10-16中任一项所述的裂缝检测设备，其特征在于，所述测量装置包括光学测量构件。

17.根据权利要求16中所述的裂缝检测设备，其特征在于，所述测量装置包括光纤，所述光纤连接至所述提升构件，并且所述光纤的变形能光学地测量。

18.根据权利要求17中所述的裂缝检测设备，其特征在于，不同测量装置包括沿相关测量点延伸的共用光纤。

19.根据权利要求17或18中所述的裂缝检测设备，其特征在于，所述光纤在所述测量点附近具有已处理部分，所述已处理部分产生特定光反射。

20.根据权利要求17-19中任一项所述的裂缝检测设备，其特征在于，所述光纤被接收在所述提升构件中的孔中。

21.根据权利要求20中所述的裂缝检测设备，其特征在于，所述孔形成在所述提升构件的中心轴线附近。

22.根据权利要求9-21中任一项所述的裂缝检测设备，其特征在于，所述警告信号产生装置布置在提升架上，所述提升构件安装在所述提升架上。

23.提升架，包括：多个提升构件，所述提升构件靠近所述提升架的拐角而安装在所述提升架上；以及根据权利要求9-22中任一项所述的裂缝检测设备，所述裂缝检测设备连接至所述提升构件。