[发明专利]跨膜的磁性纳米颗粒检测

权利要求书

1.一种用于接合到膜的第一侧的磁性颗粒的方法，每个所述磁性颗粒被结合到感兴趣的分析物，所述方法包括：

使用位于所述膜的第二侧（其与所述第一侧相对）上的磁性传感器检测所述磁性颗粒，其中所述磁性传感器相对于所述膜移动。

2.如权利要求1所述的方法，包括计数所述磁性颗粒的数量。

3.如权利要求1所述的方法，所述检测包括：

沿着所述膜的所述第二侧扫描所述传感器，由此确定所述磁性颗粒的位置。

4.如权利要求1所述的方法，其中所述磁性颗粒的阵列位于所述膜的所述第一侧上。

5.如权利要求4所述的方法，包括沿着所述膜的所述第二侧来回扫描所述传感器，由此确定所述磁性颗粒的所述位置。

6.如权利要求5所述的方法，包括计数所述磁性颗粒的数量。

7.一种用于膜的方法，所述膜在其第一侧上有区域阵列，每个区域具有多个反应位置，所述方法包括：

功能化所述反应位置，以便不同区域中的反应位置具有不同的捕获抗体；

将测试流体施加到所述膜的所述第一侧，所述测试流体包括不同的抗原，以便抗原特定地结合到所述捕获抗体中的特定捕获抗体；

将用对应于结合抗原的抗体功能化的磁性颗粒的溶液施加到所述结合抗原，以便至少一些所述结合抗原被接合到用抗体功能化的各个磁性颗粒，导致磁性颗粒被接合到各个反应位置；以及

沿着所述膜的第二侧（其与所述第一侧相对）扫描至少一个传感器，以确定接合到反应位置的每个区域中磁性颗粒的数量。

8.一种用于膜的方法，所述膜具有在其第一侧上的反应位置，所述方法包括：

功能化所述反应位置，以便所述反应位置对于感兴趣的分析物具有亲和性；

将测试流体施加到所述膜的所述第一侧，所述测试流体包括感兴趣的分析物，所述分析物结合到所述膜的所述第一侧上的反应位置；

将用对于所述分析物具有亲和性的化合物功能化的磁性颗粒的溶液施加到具有结合分析物的所述膜的所述第一侧，以便磁性颗粒被接合到所述膜的所述第一侧上的反应位置；以及

沿着所述膜的所述第二侧（与所述第一侧相对）扫描至少一个传感器，以确定接合到所述膜的所述第一侧上的反应位置的磁性颗粒的数量。

9.如权利要求7或8所述的方法，包括在所述膜的第一侧之上施加密封剂。

10.如权利要求7或8所述的方法，包括确定所述测试流体中的所述分析物的浓度。

11.如权利要求1、7或8所述的方法，其中所述膜具有小于100纳米的厚度。

12.如权利要求1、7或8所述的方法，其中所述磁性颗粒具有小于100nm的特征尺寸。

13.一种方法，包括：

提供至少一个磁性颗粒，其接合到膜的第一侧，所述至少一个磁性颗粒被结合到感兴趣的分析物；以及

使用位于所述膜的第二侧（与所述第一侧相对）上的磁性传感器来检测至少一个磁性颗粒，其中所述磁性传感器相对于所述膜移动。

14.如权利要求1、7、8或13所述的方法，所述至少一个磁性颗粒具有从由铁磁性和亚铁磁性组成的组中选择的磁性。