[发明专利]用于探测马铃薯中的“糖尖峰”缺陷的方法、传感器单元和机器有效
申请号: | 201180046309.9 | 申请日: | 2011-07-08 |
公开(公告)号: | CN103119423A | 公开(公告)日: | 2013-05-22 |
发明(设计)人: | M.布格施塔勒;P.克施哈格尔;M.格罗尼希 | 申请(专利权)人: | EVKDI克施哈格有限责任公司;因弗鲁茨股份公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;B07C5/342;B26D5/34 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 臧永杰;刘春元 |
地址: | 奥地*** | 国省代码: | 奥地利;AT |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 探测 马铃薯 中的 尖峰 缺陷 方法 传感器 单元 机器 | ||
1.用于探测马铃薯(K)中的“糖尖峰”缺陷的方法,包括:
利用至少一个光源(11)照射马铃薯(K),
对于每个马铃薯(K)上的多个位置点(P1-P4),其中位置点 (P1, P2, P4)位于马铃薯(K)的两个端部区域处并且其它位置点(P3)位于马铃薯(K)的中心区域中,将在相应的位置点(P1-P4)处反射的和/或透射的光(LP1-LP4)选择性地投射到至少一个光电传感器(12)上,通过至少一个光电传感器(12)从接收的光(LP1-LP4)中针对每个位置点(P1-P4)记录光测量信号(LM1-LM4),并且对这样地针对每个位置点(P1-P4)记录的光测量信号(LM1-LM4)进行中间存储,
其特征在于,
从光测量信号(LM1-LM4)中确定至少一个分类特征,并且
当至少一个分类特征与预定的“糖尖峰”标准相应时,将马铃薯(K)分类为患有“糖尖峰”缺陷。
2.根据权利要求1的方法,其特征在于,将由位置点(P1-P4)反射和/或透射的光(LP1-LP4)顺序地投射到至少一个光电传感器(12)上。
3.根据权利要求2的方法,其特征在于,马铃薯(K)沿着输送方向(F)以定义的输送速度(v)运动并且由位置点(P1-P4)反射或透射的光(LP1-LP4)相继地、在时间上相间隔地投射到同一个光电传感器(12)上。
4.根据权利要求3的方法,其特征在于,分布式地横向于输送方向(F)布置多个光电传感器(12),其中在输送方向上看,一个接一个的位置点(P1-P4)分别被分配给同一个光电传感器(12)。
5.根据权利要求1至4之一的方法,其特征在于,光测量信号(LM1-LM4)包含用于一个波长(TW1)或波长带(TWB1),或者用于多个彼此相间隔的波长或波长带的光强度值,其中这些光强度值是分类特征并且“糖尖峰”标准被定义为与阈值光强度值(T1, T2)的偏差。
6.根据权利要求5的方法,其特征在于,在确定的波长(TW1)或波长带(TWB1)情况下光强度值通过以下方式获得:利用具有所述确定的波长(TW1)或波长带(TWB1)的窄带光并行地或顺序地照射马铃薯(K);和/或利用宽带光来照射马铃薯(K)和利用带通滤波器(19)对在相应的位置点(P1-P4)处反射的和/或透射的光进行滤波,所述带通滤波器的通过范围包含所述确定的波长或波长带;和/或提供在所述确定的波长或波长带中是灵敏的光电传感器。
7.根据权利要求1至4之一的方法,其特征在于,利用宽带光对马铃薯(K)进行照射,借助至少一个光电传感器(12)记录由位置点(P1-P4)反射和/或透射的光(LP1-LP4)的光谱作为光测量信号(LM1-LM4),并且从所述光谱或所述光谱的n(n=1,2,...)阶导数中确定至少一个分类特征。
8.根据权利要求7的方法,其特征在于,通过将光谱分裂成多个光谱分量来记录由位置点反射和/或透射的相应光,并且将每一个光谱分量辐射到装配有多个像点的光电传感器(12)的、分配给该光谱分量的光敏像点(Bxy)上,其中可选地二维地布置光电传感器的像点(Bxy),其中第一维代表位置点,并且第二维代表光的光谱分量。
9.根据权利要求7或8的方法,其特征在于,从位置点的相应光谱或相应光谱的n阶导数中确定至少一个分类特征包括:通过形成相应位置点(P1-P4)的光谱光测量信号(LM1-LM4)与一系列波长的参考光谱的光谱值之间的差,或者通过形成相应位置点(P1-P4)的光谱光测量信号(LM1-LM4)的n阶导数与一系列波长的参考光谱的n阶导数之间的差,计算相应位置点(P1-P4)的差变化曲线,并且从这样确定的差变化曲线(D(P1)-D(P4))中确定分类特征。
10.根据权利要求9的方法,其特征在于,从差变化曲线中推导出的分类特征是相应差变化曲线在波长上的强度变化曲线并且从超出或低于定义的波长或波长带处的强度极限值中选择分类标准,必要时在形成波长带内的强度值的平均值的条件下,和/或强度值存在于定义的波长或波长带处的定义的强度值范围之内或之外,必要时在形成波长带内的强度值的平均值的条件下,和/或强度变化曲线的至少一个分段与预先定义的模式的相似度。
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