[发明专利]接收来自眼图查看器的串行数据信号的位误差率检查器有效
申请号: | 201180044562.0 | 申请日: | 2011-09-16 |
公开(公告)号: | CN103125091A | 公开(公告)日: | 2013-05-29 |
发明(设计)人: | 丁玮琦;潘明德;李鹏;S·舒马拉耶夫;M·斯玛瑙茨 | 申请(专利权)人: | 阿尔特拉公司 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00;G01R29/02 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵蓉民 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接收 来自 查看 串行 数据 信号 误差 检查 | ||
1.一种集成电路,即IC,其包括:
眼图查看器;以及
被耦合到所述眼图查看器的位误差率检查器,即BER检查器,其中所述BER检查器接收来自所述眼图查看器的串行数据信号。
2.根据权利要求1所述的IC,其中所述BER检查器接收来自所述眼图查看器的所述串行数据信号,且所述串行数据信号不通过解串器。
3.根据权利要求1所述的IC,其中所述BER检查器将所述串行数据信号与基准数据信号进行比较,以确定所述串行数据信号的BER。
4.根据权利要求1所述的IC,其还包括:
被耦合到所述眼图查看器和所述BER检查器的IC核心;
其中所述BER检查器在所述IC核心的外部。
5.根据权利要求4所述的IC,其中所述BER检查器是专用BER检查器。
6.根据权利要求1所述的IC,其中所述BER检查器包括:
异或门。
7.根据权利要求6所述的IC,所述BER检查器还包括:
被耦合到所述异或门的可编程延迟电路;以及
被耦合到所述异或门的误差计数器。
8.根据权利要求7所述的IC,其还包括:
被耦合到所述眼图查看器的时钟数据恢复电路,即CDR电路;
被耦合到所述CDR电路和所述眼图查看器的第一复用器;
被耦合到所述第一复用器的解串器;以及
被耦合到所述CDR电路和所述BER检查器的第二复用器;
其中所述第一复用器接收来自所述CDR电路的第一数据信号和来自所述眼图查看器的第二数据信号,选择所述第一数据信号和所述第二数据信号中的一个,并且将第一所选的数据信号提供到所述解串器;
进一步地,其中所述第二复用器接收来自所述CDR电路的所述第一数据信号和已知数据信号,选择所述第一数据信号和所述已知数据信号中的一个,并且将第二所选的数据信号提供到所述BER检查器;以及
进一步地,其中所述BER检查器接收所述第二所选的数据信号和所述第二数据信号,并且所述可编程延迟电路匹配所述第二所选数据信号和所述第二数据信号的延迟,其中所述第二数据信号是所述串行数据信号。
9.根据权利要求1所述的IC,其中所述IC是可编程逻辑器件。
10.一种数字系统,其包括权利要求1所述的IC。
11.一种集成电路,即IC,其包括:
时钟数据恢复电路,即CDR电路;
被耦合到所述CDR电路的眼图查看器;
被耦合到所述CDR电路和所述眼图查看器的解串器;
被耦合到所述解串器的IC核心;以及
被耦合到所述眼图查看器、所述CDR电路和所述IC核心的位误差率检查器,即BER检查器,其中所述BER检查器包括:
比较器;
被耦合到所述比较器的可编程延迟电路;以及
被耦合到所述比较器的误差计数器;
其中所述BER检查器在所述IC核心的外部。
12.根据权利要求11所述的IC,其中所述比较器包括异或门。
13.根据权利要求12所述的IC,其中所述BER检查器接收来自所述眼图查看器的串行数据信号,且所述串行数据信号不通过所述解串器。
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