[发明专利]测量多个波长处的吸收的光学探头无效

专利信息
申请号: 201180042993.3 申请日: 2011-07-18
公开(公告)号: CN103080728A 公开(公告)日: 2013-05-01
发明(设计)人: F·勒维尔萨特;M·休伯特;S·逖斯兰德;L·洛克斯 申请(专利权)人: 西利奥斯技术公司
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;G01N21/85
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 魏小薇
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 测量 波长 吸收 光学 探头
【权利要求书】:

1.一种光学探头,包括:

-第一单元(C1),包括第一发射模块(LED1)和能够产生第一检测信号(DS1)的第一检测模块(D1),

-第二单元(C2),包括能够产生第一发射模块(LED1)的第一监测信号(MS1)的第二检测模块(D2),

-控制电路(CC),通过所述第一监测信号(MS1)对第一检测信号(DS1)进行加权,产生第一测量信号(Qm1),

其特征在于,所述第二单元(C2)包括第二发射模块(LED2、SR-SEa-SEb),所述第二检测模块(D2)能够产生第二检测信号,并且所述第一检测模块(D1)能够产生所述第二发射模块(LED2、SR-SEa-SEb)的第二监测信号。

2.根据权利要求1所述的光学探头,其特征在于,所述单元(C1、C2)各自呈现具有主动表面的密封主体的形式。

3.根据权利要求2所述的光学探头,其特征在于,所述单元(C1、C2)分别被布置在位于单元的主动表面上的窗孔(H1、H2)后面。

4.根据权利要求3所述的光学探头,其特征在于,所述检测模块(D1、D2)中的每个检测模块被放置在与相应的窗孔(H1、H2)邻近的局部反光板(PR1、PR2)后面。

5.根据权利要求4所述的光学探头,其特征在于,所述检测器(D1、D2)是相同的。

6.根据权利要求5所述的光学探头,其特征在于,所述单元(C1、C2)由连接装置(L1、L2)连接,这些单元的主动表面相互面对。

7.根据前述权利要求中任一项所述的光学探头,其特征在于,所述第一测量信号(Qm)等于所述检测信号(DS1)与所述监视信号(MS1)的比率。

8.根据权利要求7所述的光学探头,其特征在于,所述控制电路(CC)把以下值存储在存储器中:

-基准测量值Qr,

-基准吸收Ar,

-特征长度Lc,

词语Ln表示自然对数,

该控制电路产生由以下表达式得出的吸收值Am:

Am=Ar-(Ln(((Qm-Qr)/Qr)+1)/Lc)。

9.根据权利要求8所述的光学探头,其特征在于,所述控制电路(CC)具有温度补偿。

10.根据权利要求9所述的光学探头,其特征在于,所述温度补偿是借助两个常数K1和K2、校准温度θ0以及实现测量的温度θ,基于以下表达式实现的:

Qm(θ)/Qr(θ0)=exp((Ar-Am).Lc).(θ+Κ1)/(θ0+Κ1).(θ0+Κ2)/(θ+Κ2)。

11.根据前述权利要求中任一项所述的光学探头,其特征在于,所述发射模块之一包括照射检测模块(D1)的两个光源(SEa、SEb),这两个光源(SEa、SEb)通过局部反光板(SR)而面对检测模块(D1)。

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