[发明专利]测量多个波长处的吸收的光学探头无效
| 申请号: | 201180042993.3 | 申请日: | 2011-07-18 |
| 公开(公告)号: | CN103080728A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
| 发明(设计)人: | F·勒维尔萨特;M·休伯特;S·逖斯兰德;L·洛克斯 | 申请(专利权)人: | 西利奥斯技术公司 |
| 主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27;G01N21/85 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 魏小薇 |
| 地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测量 波长 吸收 光学 探头 | ||
1.一种光学探头,包括:
-第一单元(C1),包括第一发射模块(LED1)和能够产生第一检测信号(DS1)的第一检测模块(D1),
-第二单元(C2),包括能够产生第一发射模块(LED1)的第一监测信号(MS1)的第二检测模块(D2),
-控制电路(CC),通过所述第一监测信号(MS1)对第一检测信号(DS1)进行加权,产生第一测量信号(Qm1),
其特征在于,所述第二单元(C2)包括第二发射模块(LED2、SR-SEa-SEb),所述第二检测模块(D2)能够产生第二检测信号,并且所述第一检测模块(D1)能够产生所述第二发射模块(LED2、SR-SEa-SEb)的第二监测信号。
2.根据权利要求1所述的光学探头,其特征在于,所述单元(C1、C2)各自呈现具有主动表面的密封主体的形式。
3.根据权利要求2所述的光学探头,其特征在于,所述单元(C1、C2)分别被布置在位于单元的主动表面上的窗孔(H1、H2)后面。
4.根据权利要求3所述的光学探头,其特征在于,所述检测模块(D1、D2)中的每个检测模块被放置在与相应的窗孔(H1、H2)邻近的局部反光板(PR1、PR2)后面。
5.根据权利要求4所述的光学探头,其特征在于,所述检测器(D1、D2)是相同的。
6.根据权利要求5所述的光学探头,其特征在于,所述单元(C1、C2)由连接装置(L1、L2)连接,这些单元的主动表面相互面对。
7.根据前述权利要求中任一项所述的光学探头,其特征在于,所述第一测量信号(Qm)等于所述检测信号(DS1)与所述监视信号(MS1)的比率。
8.根据权利要求7所述的光学探头,其特征在于,所述控制电路(CC)把以下值存储在存储器中:
-基准测量值Qr,
-基准吸收Ar,
-特征长度Lc,
词语Ln表示自然对数,
该控制电路产生由以下表达式得出的吸收值Am:
Am=Ar-(Ln(((Qm-Qr)/Qr)+1)/Lc)。
9.根据权利要求8所述的光学探头,其特征在于,所述控制电路(CC)具有温度补偿。
10.根据权利要求9所述的光学探头,其特征在于,所述温度补偿是借助两个常数K1和K2、校准温度θ0以及实现测量的温度θ,基于以下表达式实现的:
Qm(θ)/Qr(θ0)=exp((Ar-Am).Lc).(θ+Κ1)/(θ0+Κ1).(θ0+Κ2)/(θ+Κ2)。
11.根据前述权利要求中任一项所述的光学探头,其特征在于,所述发射模块之一包括照射检测模块(D1)的两个光源(SEa、SEb),这两个光源(SEa、SEb)通过局部反光板(SR)而面对检测模块(D1)。
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