[发明专利]包括具有增强的分析和调试能力的可编程逻辑分析仪的集成电路及其方法

说明书

相关申请的交叉引用

根据37 C.F.R.§1.78，本申请是于2009年8月18日提交的题为“包括具有增强的分析和调试能力的可编程逻辑分析仪的集成电路电路及其方法”的申请号为12/542976的部分继续申请且要求该申请的较早提交日期的权益，因此，其全部内容通过引用的方式并入本文。

背景

1.发明领域

本发明一般涉及嵌入式逻辑分析仪，特别是涉及用于分析电子电路的可编程嵌入式逻辑分析仪。

2.背景技术的说明

逻辑分析仪是用来捕获和显示电子电路的数据信号的电子装置。通常，逻辑分析仪捕获太快而不能被用户观察到的数据信号。用户观察由逻辑分析仪捕获的数据信号，以有效地分析电子电路并基于分析采取先发制人的行动或调试。

逻辑分析仪大致可划分为外部逻辑分析仪和嵌入式逻辑分析仪。嵌入式逻辑分析仪通常被包括在可编程的逻辑器件或集成电路（IC）中，例如，复杂可编程逻辑器件（CPLD），现场可编程门阵列（FPGA），专用集成电路（ASIC）等。嵌入式逻辑分析仪能够捕获IC内的大量高速数据信号。

嵌入式逻辑分析仪可以包括存储器，用于存储所捕获的数据信号。通常，嵌入式逻辑分析仪是可编程的，以捕获和存储由用户指定的数据信号。由嵌入式逻辑分析仪所存储的数据信号可被转移到计算机，用于进一步分析。数据信号通常通过设置在IC上的接口被传输到计算机。

图1是被包括在集成电路（未示出）内的传统的嵌入式逻辑分析仪（ELA）100的方框图，ELA 100包括互连模块110，来接收集成电路内的多个数据信号。互连模块110是可编程的，以从多个接收信号中选择多个待采样的信号和至少一个触发信号，以使采样能够进行。至少一个触发信号被传输到触发模块120。触发模块120是可编程的，以设置触发条件，并探测至少一个触发信号是否满足触发条件。如果触发条件被满足时，触发模块120启动采样过程。采样过程启动后，存储控制器130开始将来自互连模块110的要采样的多个信号采样。采样信号可以被存储在存储器140中，用于进一步的分析。因此，ELA100操作来执行下面给出的代码：

IF(<TRIGGER CONDITION(触发条件)>THEN(SAMPLE SIGNALS（信号采样）(X)),

其中TRIGGER CONDITION是任何逻辑操作或逻辑操作系列，以及SIGNALS(X)是来自互连模块110的要采样的多个信号。根据由ELA100所执行的代码，当满足触发条件时，ELA100采样至少一个采样信号并将采样信号存储在存储器140中。

然而，传统的ELA被限制在当触发条件被满足时采样。此外，传统的ELA不捕获、分析，和/或调试IC内的软件数据或固件数据信号，以及额外的装置可能是必要的，以分析这些类型的数据。另外，为了编程ELA或分析在ELA内存储的数据，用户被要求出现在安装ELA的工作站。

因此将可取的是，提供具有增强的分析和调试能力的ELA，以避免上述的问题。

发明内容

本发明的示例性实施方案克服了已知的逻辑分析仪中的缺点，从而满足用于有效地测试和调试系统的机制的重要需求。根据示例性实施方案，公开了包括逻辑分析仪和第一模块的集成电路，该逻辑分析仪具有接收多个信号的第一输入和用于提供出现在第一输入的信号的选定样本的第一输出；该第一模块具有第一输入和输出，所述第一输入耦合到逻辑分析仪，用于接收出现在其第一输入的一个或多个信号，所述输出耦合到逻辑分析仪用于根据预定的功能，直接向其提供基于第一模块的第一输入处的一个或多个信号的不同组的一个或多个信号，所述预定的功能可被配置。通过提供基于出现在逻辑分析仪的第一输入的一个或多个信号的不同的信号组到逻辑分析仪，第一模块在能够有效地执行系统级和子系统级的测试和调试操作方面提供了增加的灵活性。

根据另外的示例性实施方案，其中公开了包括集成电路的系统，所述集成电路具有嵌入式逻辑分析仪块和模块，所述嵌入式逻辑分析仪块具有用于接收多个信号的输入和用于部分地基于所述多个信号来探测事件发生的触发事件块；所述模块耦合到嵌入式逻辑分析仪并具有基于对事件发生的探测的输出，该输出被提供到嵌入式逻辑分析仪用于采样或存储在其中。通过将基于事件的探测或发生的输出提供到嵌入式逻辑分析仪以用于采样或存储，所述模块有利地允许用于采样和存储系统数据的更加有效的机制。