[发明专利]时间检测电路、AD转换器以及固体摄像装置有效
申请号: | 201180037919.2 | 申请日: | 2011-05-31 |
公开(公告)号: | CN103053115A | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
发明(设计)人: | 萩原义雄 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | H03M1/12 | 分类号: | H03M1/12;H04N5/374;H04N5/378 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 时间 检测 电路 ad 转换器 以及 固体 摄像 装置 | ||
技术领域
本发明涉及时间检测电路以及使用该时间检测电路的AD转换器和固体摄像装置。
本申请基于2010年8月6日在日本申请的特愿2010-177756号主张优先权,在此援引其内容。
背景技术
作为现有的时间检测电路的一例,已知有图8所示的结构(例如参照专利文献1、2)。首先,对图8的时间检测电路的结构以及动作进行说明。
图8示出了现有例的时间检测电路的结构。图8所示的时间检测电路由延迟部30、比较部31、锁存部33以及计数部34构成。延迟部30具有使输入信号延迟后输出的多个延迟单元DU[0]~DU[7]。向开头的延迟单元DU[0]输入起始脉冲(=StartP)。比较部31具有电压比较器,该电压比较器被输入作为时间检测对象的模拟信号Signal和随着时间的经过而减少的斜波Ramp,并输出表示模拟信号Signal与斜波Ramp的比较结果的信号。锁存部33具有对延迟部30的输出CK0~CK7的逻辑状态进行锁存的锁存电路D_0~D_7。计数部34具有根据来自延迟部30的输出CK7进行计数的计数电路。
在比较部31中,生成与模拟信号Signal的振幅对应的时间间隔(时间轴方向的大小)。缓冲电路是使输入信号反转后输出的反转缓冲电路。在此,为了便于理解本说明书中的说明而采用了反转缓冲电路的结构。
在缓冲电路的输出Hold为高电平时,构成锁存部33的锁存电路D_0~D_7处于有效(enable)状态,按原样输出延迟单元DU[0]~DU[7]的输出CK0~CK7。此外,在缓冲电路的输出Hold从高电平转变为低电平时,锁存电路D_0~D_7成为无效(disable)状态,对与此时的延迟单元DU[0]~DU[7]的输出CK0~CK7对应的逻辑状态进行锁存。
控制信号RST是用于进行构成计数部34的计数电路的复位动作的信号。另外,虽然没有明示对计数部34的计数结果的逻辑状态进行锁存的计数锁存电路,但通过使用具有锁存功能的计数电路,计数电路兼用作计数锁存电路。
接着,对现有例的动作进行说明。图9示出了现有例的时间检测电路的动作。
首先,在与比较部31的比较开始相关的定时(第一定时),向延迟部30输入周期与延迟部30的延迟时间大致一致的时钟作为起始脉冲(=StartP)。由此,延迟部30开始进行动作。构成延迟部30的延迟单元DU[0]使起始脉冲(=StartP)反转和延迟后输出为输出CK0,构成延迟部30的延迟单元DU[0]~DU[7]分别使前级的延迟单元的输出反转和延迟后输出为输出CK1~CK7。延迟单元DU[0]~DU[7]的输出CK0~CK7被输入到锁存部33的锁存电路D_0~D_7。由于缓冲电路的输出Hold为高电平,所以锁存电路D_0~D_7为有效状态,按原样输出延迟单元DU[0]~DU[7]的输出CK0~CK7。
计数部34根据作为锁存部33的锁存电路D7的输出Q7而输出的延迟部30的输出CK7进行计数动作。在该计数动作中,通过输出CK7的上升或下降,计数值增加或减少。在模拟信号Signal和斜波Ramp大致一致的定时(第二定时)输出C0反转。在缓冲电路中对比较部31的输出C0进行缓冲之后(第三定时),缓冲电路的输出Hold成为低电平。
由此,锁存电路D_0~D_7成为无效状态。此时,与延迟单元DU[0]~DU[7]的输出CK0~CK7对应的逻辑状态被锁存电路D_0~D_7锁存。
通过锁存电路D_7停止动作,由此,计数部34对计数值进行锁存。根据锁存部33锁存的逻辑状态和计数部34锁存的计数值,得到与模拟信号Signal对应的数据。
根据上述现有例的时间检测电路,能够得到与时间间隔对应的数据。即、能够检测与时间间隔对应的时间。
也可以利用上述的时间检测电路,构成将模拟信号转换为数字信号的AD转换器。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2009-38726号公报
专利文献2:日本特开2009-38781号公报
发明内容
发明所要解决的课题
在上述现有的时间检测电路中,由于构成锁存部33的锁存电路D_0~D_6在时间间隔的期间动作,所以锁存部33所消耗的电流值变大,很难减少时间检测电路的消耗电流。
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