[发明专利]生成质谱数据的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201180037793.9 申请日: 2011-07-28
公开(公告)号: CN103053005A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 安德鲁·鲍德勒 申请(专利权)人: 奎托斯分析有限公司
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00;H01J49/40
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 英国曼*** 国省代码: 英国;GB
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摘要:
搜索关键词: 生成 数据 方法 设备
【权利要求书】:

1.使用具有离子源和离子检测器的质谱仪生成质谱数据的方法,其中,所述方法包括:

在至少一个信号获得周期中,基于所述离子检测器的输出获得代表样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据,在所述至少一个信号获得周期中,通过所述离子检测器检测由所述离子源产生的样品材料的离子;以及

从所述信号质谱数据减去代表所述质谱仪中的噪声的噪声质谱数据以产生修改的代表所述样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述方法包括:在至少一个噪声获得周期期间,基于所述离子检测器的输出获得代表所述质谱仪中的噪声的所述噪声质谱数据。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,在所述至少一个噪声获得周期中,所述离子检测器不检测来自所述离子源的任何离子。

4.根据权利要求2或者3所述的方法,其中,在所述至少一个噪声获得周期中,所述离子源不产生任何样品材料的离子,或者所述离子源产生样品材料的离子但是所述离子源产生的离子被阻止由所述离子检测器检测到。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的方法,其中,所述噪声获得周期或每个噪声获得周期和所述信号获得周期或每个信号获得周期包括以下中的一个或多个:产生一个或更多个高压脉冲;将一个或更多个高压脉冲供给到所述质谱仪的一个或更多个部件;以及操作所述质谱仪的一个或更多个马达。

6.根据权利要求2至5中任一项所述的方法,其中所述噪声获得周期或每个噪声获得周期和所述信号获得周期或每个信号获得周期优选地包括:基于所述离子检测器的输出操作用于生成质谱数据的电子设备。

7.根据权利要求2至6中任一项所述的方法,其中所述噪声获得周期或每个噪声获得周期与所述信号获得周期或每个信号获得周期大致相同,不同之处在于,在所述噪声获得周期或每个噪声获得周期中,所述离子源不用于产生任何样品材料的离子,或者所述离子源用来产生样品材料的离子但是由所述离子源产生的离子不被所述离子检测器检测。

8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中从所述信号质谱数据减去的所述噪声质谱数据是预存储的噪声质谱数据或者是基于预存储的噪声质谱数据,所述预存储的噪声质谱数据在获得所述信号质谱数据之前被储存。

9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中在多个所述信号获得周期期间基于所述离子检测器的输出获得所述信号质谱数据,和/或在多个所述噪声获得周期期间基于所述离子检测器的输出获得所述噪声质谱数据。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述方法包括:在多个段中获得所述噪声质谱数据,每个段的噪声质谱数据代表在各自的质量/电荷比率范围上的所述质谱仪中的噪声并且在至少一个各自的噪声获得周期期间基于所述离子检测器的输出获得。

11.根据权利要求9所述的方法,进一步包括:从所述信号质谱数据减去所述多个段的噪声质谱数据,以产生修改的代表所述样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据。

12.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中在所述质谱仪的连续的周期中执行多个信号获得周期和多个噪声获得周期,其中所述连续的周期之间的时间差为1秒或更小,更优选地为100毫秒或更小,更优选地为10毫秒或更小,更优选地为1毫秒或更小,更优选地为100微秒或更小。

13.根据前述权利要求中任一项所述的方法,多个信号获得周期与多个噪声获得周期交错。

14.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述方法包括:根据用以获得所述数据的获得周期的数量缩放所述信号质谱数据和/或所述噪声质谱数据。

15.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述方法包括:在与用于分析信号质谱数据的处理单元连接的预处理单元中从所述信号质谱数据减去所述噪声质谱数据。

16.根据权利要求15所述的方法,其中所述方法包括:在所述预处理单元中获得所述信号质谱数据和/或所述噪声质谱数据。

17.根据权利要求15或者16所述的方法,其中所述方法包括:将所述信号质谱数据存储在所述预处理单元中的第一存储器中,以及将所述噪声质谱数据存储在所述预处理单元中的第二存储器中。

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