[发明专利]管中的工具的探测

权利要求书

1.一种用于携带通过钻管部署的工具的工具串，其包括：

传感器，其用于进行测量，所述测量给出关于所述工具是否已部署在所述钻管之下的指示，

其中当确定所述工具已部署在所述钻管之下时，向所述工具串供电以进行测井，所述工具已部署在所述钻管之下的确定基于所述指示。

2.如权利要求1所述的工具串，其中所述测量包括由所述传感器进行的多个测量，并且

其中所述传感器包括多个传感器。

3.如权利要求1所述的工具串，其中测井数据的采集基于所述工具已部署在所述钻管之下的所述确定而开始。

4.如权利要求1所述的工具串，其中所述工具串被锁到所述钻管的底部。

5.如权利要求1所述的工具串，其中所述测量包括下列项中的至少一个：使用一个或多个γ-射线探测器的γ-γ密度和光电因子(PEF)测量。

6.如权利要求5所述的工具串，其中所述测量包括下列项中的至少一个：与预定的限制比较的在所述γ-射线探测器中的一个或多个中的校准的计数率。

7.如权利要求1所述的工具串，其中所述测量包括下列项中的至少一个：

由设备对所述工具串上的密度极板进行的超声波测量；

电介质测量；以及

实质上与密度测量组合的电阻率测量。

8.如权利要求1所述的工具串，其中所述测量包括下列项中的至少一个：

与预定的限制比较的表观γ-γ密度；

在两个或多个γ-γ密度探测器所测量的表观密度之间的差异；

使用一个或多个探测器测量的γ-射线能谱的能谱形状；

来自多个γ射线探测器的计数率，其中所述计数率被输入到正演模型中，且其中所述指示基于由于所述正演模型的反演而产生的重构误差；以及

来自进入神经网络的多个探测器的计数率，所述多个探测器确定钻管的存在或缺少。

9.如权利要求1所述的工具串，其中所述测量基于能谱中的低能量能谱窗口中的计数和高能量能谱窗口中的计数之间的比。

10.如权利要求1所述的工具串，其中所述测量包括下列项中的至少一项：

用于获得密度和PEF的来自密度探测器的多个能量窗口的计数率的正演模型和反演；以及

在一个或多个能量窗口中的所述一个或多个γ-射线探测器的计数率的正演模型，其中所述正演模型包括对围绕所述工具的钻管的响应和求出围绕所述工具的钻管的存在的反演。

11.如权利要求1所述的工具串，其中所述测量包括使用包含至少一个热探测器或超热探测器的中子孔隙度测井仪进行的测量。

12.如权利要求11所述的工具串，其中所述测量包括基于所述计数率的预设限制的一个或多个探测器的校准的计数率。

13.如权利要求11所述的工具串，其中所述测量包括下列项中的至少一项：

在基于远中子探测器和近中子探测器的计数率之比的表观孔隙度和基于近热中子探测器的计数率的表观孔隙度之间的差异；

在基于远中子探测器的计数率的表观孔隙度和基于近热中子探测器的计数率的表观孔隙度之间的差异；

在基于远中子探测器的计数率的表观孔隙度(a)和基于近热中子探测器的计数率的表观孔隙度(b)之间的比；以及

在基于远中子探测器和近中子探测器的计数率比的表观孔隙度(a)和基于近热中子探测器的计数率的表观孔隙度(b)之间的比。

14.如权利要求1所述的工具串，其中连接到所述工具串的井径仪基于正的指示而打开，且其中如果所述井径仪不能在预定的值之外打开，则所述井径仪随后闭合。

15.如权利要求14所述的工具串，其中所述测量在预定的等待时间之后重复，以确定所述井径仪是否能够被打开。

16.如权利要求1所述的工具串，其中所述测量包括下列项中的至少一个：电阻率测量、感应测量、电流引起的电阻率测量、核磁共振测量、声波测量、超声波测量和来自磁性传感器的测量。