[发明专利]光学信息记录介质及其制造方法

说明书

技术领域

本发明涉及光学信息记录介质及其制造方法。

背景技术

近年来，为了在光学信息记录介质的多个层中记录信息，研究了这样的方法：该方法利用双光子吸收等多光子吸收反应使光学信息记录介质中所含的记录材料发生光学变化（参见（例如）专利文献1）。对于利用多光子吸收反应的光学信息记录介质，与广泛使用的传统的具有记录单层的光学信息记录介质相同，考虑到读取信息时在记录层的上下两界面处所反射的反射光相互干涉（这被称作干涉效果），确定在记录区域处记录材料的折射率变化和记录层的厚度，使得记录部分的反射率与非记录部分的反射率的差值（即，在记录层的上下界面处反射并且相互干涉，然后返回到光学拾波器的光束的比率的差值）大。在专利文献1中公开的信息记录介质中，如该文献的图2所示考虑了膜厚度与反射率之间的关系，并且第[0062]段建议记录层的厚度优选为约λ/4n（其中λ为读取光的波长，n为记录层的折射率），或者厚度更薄至约5nm至50nm。

专利文献2公开了不利用以上文献所利用的干涉效果的另一光学信息记录介质。根据该已知的光学信息记录介质，在记录层下设置荧光发光层，该荧光发光层所发出的光穿过记录层而被检测，由此读取信息。

引用列表

专利文献

专利文献1：日本专利No.4290650

专利文献2：日本特开专利申请公开No.2001-325745

发明内容

技术问题

然而，如果同专利文献1一样，在读取信息时利用在记录层的两界面处所反射的反射光的干涉效果，则记录层必须被制造为具有所设计的精确的膜厚度以获得优异的调制度。这要求膜厚度的精度，因此导致光学信息记录介质的制造成本增加。

另外，如果同专利文献2一样，将发出的荧光视为基础光（base light），并且由用于检测基础光返回多少的光检测器所接收的光的变化而得到调制，则由于所发出的荧光很弱，因此难以获得可接受的再生输出。

鉴于以上情况，本发明旨在提供一种具有优异的再生输出而不要求记录层的膜厚度高度精确的光学信息记录介质以及制造该光学信息记录介质的方法。

解决问题的方法

为了解决前述问题，本发明提供了一种光学信息记录介质，其包括：多个记录层，各个记录层通过记录光的照射而发生折射率的变化；以及至少一个中间层。所述中间层为包括第一中间层和第二中间层的复合层，并且位于两个邻接的记录层之间。所述第一中间层被设置为在记录光进入记录层的入射侧的相对侧与两个记录层中的一个邻接，并且所述第一中间层的折射率不同于该记录层的折射率。所述第二中间层被设置为在记录光进入记录层的入射侧与两个记录层中的另一个邻接，并且所述第二中间层的折射率与该记录层的折射率基本相同。所述第一中间层与所述第二中间层在它们之间的界面处互相融合，由此折射率在该界面处逐渐变化。

根据该光学信息记录介质，如果用光照射记录层，并且如后所述使记录层的折射率发生变化以具有透镜效果，则在读取信息时，从读出光（用于读取信息而照射的光）进入记录层的方向看，读出光在记录层与设置在该记录层远侧的邻接第一中间层之间的界面（在本说明书中，该界面被称为“远侧界面”）处反射，然而，读出光在记录层与设置在该记录层近侧的邻接第二中间层之间的界面（在本说明书中，该界面被称为“近侧界面”）处不反射。另外，读出光在第一中间层与第二中间层之间的界面（该界面被称为“中间界面”）处不反射。因此，近侧界面和中间界面处的反射不妨碍在远侧界面处的反射光的检测，从而以高信噪比读取信息。

在前述光学信息记录介质中，所述记录层可以由含有染料的树脂制成，并且所述第一中间层和所述第二中间层可以由对记录光透明的树脂制成。

另外，前述光学信息记录介质优选被构造为满足0.001＜((n2-n1)/(n2+n1))²＜0.04，其中n1为所述记录层的折射率，n2为所述第一中间层的折射率。

当((n2-n1)/(n2+n1))²（即反射率）大于0.001时，充分确保了在远侧界面处的反射光的强度，从而能够读取信息。然而，当反射率小于0.04时，在远侧界面处的反射光的强度适当的小，使得记录光和读出光能到达更深的记录层，从而允许设置大量记录层以实现高容量记录。