[发明专利]EM校准的实时质量控制有效

专利信息
申请号: 201180032617.6 申请日: 2011-05-27
公开(公告)号: CN102970926A 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: A·K·贾殷 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: A61B5/06 分类号: A61B5/06;A61B1/00;G06T7/00;A61B19/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: em 校准 实时 质量 控制
【权利要求书】:

1.一种图像引导的系统,包括:

探头(20),其用于生成解剖对象(10)的多个图像体积(13i、13j),每个图像体积(13i、13j)是所述解剖对象(10)的基线图像体积(12)的不同子集;

成像装置(12),其用于生成指示所述解剖对象(10)的所述图像体积(13i、13j)的成像数据(22);

附接至所述探头(20)的位置传感器(30);

跟踪装置(31),其用于生成表示在坐标系(11)内对所述位置传感器(30)的跟踪的跟踪数据(22);以及

配准装置(40),其响应于所述成像数据(22)和所述跟踪数据(32)以执行与所述图像体积(13i、13j)和所述位置传感器(30)之间的空间关系相关联的校准矩阵(51)的验证测试,

其中,所述验证测试包括测试相对于校准阈值(CT)的基于图像

的体积运动(VMIB)与基于跟踪的体积运动(VMTB)之间的绝对差异,

其中,所述基于图像的体积运动(VMIB)表示从成像数据(22)

导出的在所述坐标系(11)内所述图像体积(13i、13j)的图像运动,

并且

其中,所述基于跟踪的体积运动(VMTB)表示从跟踪数据(32)

导出的在所述坐标系(11)内所述图像体积(13i、13j)的跟踪运动。

2.根据权利要求1所述的图像引导的系统,其中,所述探头(20)是超声探头,并且所述成像装置(21)是超声成像装置。

3.根据权利要求1所述的图像引导的系统,其中,所述位置传感器是电磁传感器,并且所述跟踪装置(31)是电磁跟踪装置。

4.根据权利要求1所述的图像引导的系统,其中,响应于所述基于图像的体积运动(VMIB)与所述基于跟踪的体积运动(VMTB)之间的所述绝对差异小于所述校准阈值(CT),所述校准矩阵(51)被认为是有效的。

5.根据权利要求1所述的图像引导的系统,其中,响应于所述基于图像的体积运动(VMIB)与所述基于跟踪的体积运动(VMTB)之间的所述绝对差异大于所述校准阈值(CT),所述校准矩阵(51)被认为是无效的。

6.根据权利要求1所述的图像引导的系统,其中,根据相对于所述坐标系(11)内第二图像体积(13j)的图像位置(VLji)的所述坐标系(11)内第一图像体积(13i)的图像位置(VLii)来计算所述基于图像的体积运动(VMIB)。

7.根据权利要求6所述的图像引导的系统,其中,所述基于图像的体积运动(VMIB)的计算包括所述第一图像体积(13i)与所述第二图像体积(13j)之间的配准。

8.根据权利要求6所述的图像引导的系统,其中,所述基于图像的体积运动(VMIB)的计算包括所述第一图像体积(13i)和所述第二图像体积(13j)到所述解剖对象(10)的所述基线图像体积(12)的配准。

9.根据权利要求6所述的图像引导的系统,其中,所述基于图像的体积运动(VMIB)的所述计算包括对所述坐标系(11)内所述解剖对象(10)的移动的补偿。

10.根据权利要求1所述的图像引导的系统,其中,根据由所述跟踪数据(32)表示的在所述坐标系(11)内第一图像体积(13i)的跟踪位置(VLit)和由所述跟踪数据(32)表示的在所述坐标系(11)内第二图像体积(13j)的跟踪位置(VLjt)来计算所述基于跟踪的体积运动(VMTB)。

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