[发明专利]X射线CT装置及其控制方法

权利要求书

1.一种X射线CT装置，其特征在于，具备：

产生X射线的X射线源；

与所述X射线源相对配置，检测透过被检体的所述X射线，输出所述被检体的投影数据的X射线检测器；

使所述X射线源和所述X射线检测器在维持相对配置的状态下旋转的旋转单元；

生成与包含在所述投影数据中的像素值的特征量对应地变化的图像处理滤波器的滤波器生成单元；

重构单元，对所述投影数据，使用所述生成的图像处理滤波器进行重构运算，生成所述被检体的X射线CT像；以及

显示所述X射线CT像的图像显示单元。

2.根据权利要求1所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述滤波器生成单元对于所述投影数据的各点，生成卷积滤波器作为与该点的像素值的特征量对应的所述图像处理滤波器，

所述重构单元具备针对所述各点的每个点叠加所述卷积滤波器的卷积单元。

3.根据权利要求2所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述X射线CT装置还具备：

输入所述卷积滤波器的生成条件的第一输入单元；以及

生成包含与所述投影数据的像素值的特征量对应地变化的参数的第一滤波器变换信息的第一滤波器变换信息生成单元，

所述滤波器生成单元使用所述输入的生成条件以及所述第一滤波器变换信息，生成所述卷积滤波器。

4.根据权利要求3所述的X射线CT装置，其特征在于，

作为所述生成条件，所述第一输入单元接受所述卷积滤波器的横向的卷积尺寸、规定横向的平滑化处理的大小的滤波器函数阈值、以及规定横向的平滑化滤波器函数的变化量的滤波器函数变化量、以及所述卷积滤波器的纵向的卷积尺寸、规定纵向的平滑化处理的大小的滤波器函数阈值、以及规定纵向的平滑化滤波器函数的变化量的滤波器函数变化量的输入，

所述第一滤波器变换信息生成单元使用所述投影数据的像素值的特征量和所述横向滤波器函数阈值以及横向滤波器函数变化量来计算横向平滑化参数，并且使用所述投影数据的像素值的特征量、所述纵向滤波器函数阈值以及纵向滤波器函数变化量来计算纵向平滑化参数，

所述滤波器生成单元对所述投影数据的各点，使用该点的像素值的特征量和与该特征量对应的横向平滑化参数以及所述纵向平滑化参数，生成由所述输入的横向卷积尺寸以及纵向卷积尺寸构成的所述卷积滤波器。

5.根据权利要求4所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述第一滤波器变换信息生成单元还具备：设定包含所述投影数据的各点的第一计算区域的第一区域设定单元；计算在所述第一计算区域中包含的像素的像素值的特征量的第一特征量计算单元；将所述各点的坐标值和所述像素值的特征量对应起来的第一特征量拟合单元，生成将使用与所述坐标值对应的像素值的特征量计算出的所述横向平滑化参数以及所述纵向平滑化参数与所述坐标值对应起来的所述第一滤波器变换信息，

所述滤波器生成单元使用所述投影数据的各点的坐标值和所述第一滤波器变换信息，生成所述卷积滤波器。

6.根据权利要求2所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述滤波器生成单元，对于所述投影数据或叠加了所述卷积滤波器的卷积运算处理后投影数据的成为1维傅里叶变换处理的对象的各行数据，基于该行数据的像素值的特征量生成与频率对应的FFT滤波器，作为所述图像处理滤波器，

所述重构单元具备针对所述投影数据的各行数据、或所述卷积运算处理后投影数据的各行数据的每个数据进行使用所述FFT滤波器的滤波处理的滤波单元。

7.根据权利要求6所述的X射线CT装置，其特征在于，

所述X射线CT装置还具备：

输入所述FFT滤波器的生成条件的第二输入单元；以及

生成包含与所述投影数据的行数据的像素值的特征量对应地变化的参数的第二滤波器变换信息的第二滤波器变换信息生成单元，

所述滤波器生成单元使用所述输入的生成条件以及所述第二滤波器变换信息，针对所述投影数据的各行数据或所述卷积运算处理后投影数据的各行数据，生成所述FFT滤波器。