[发明专利]整流电路装置有效
| 申请号: | 201180029459.9 | 申请日: | 2011-07-11 |
| 公开(公告)号: | CN102959848A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
| 发明(设计)人: | 吉田泉;土山吉朗;京极章弘;川崎智广 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | H02M7/12 | 分类号: | H02M7/12 |
| 代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 整流 电路 装置 | ||
1.一种整流电路装置,其特征在于:
通过使半导体开关进行斩波,经由电抗器使单相交流电源短路、开路,经由所述电抗器从交流侧向直流侧供给电流,所述整流电路装置包括:
形成与交流电压波形相同频率的目标电流波形的单元;
检测交流侧的电流或者直流侧的电流的单元;
检测直流电压的单元;
调整并控制所述半导体开关的斩波以使得所述目标电流波形与所检测出的电流波形成为相同形状的单元;和
调整所述目标电流波形的振幅以使得所述直流电压成为期望的电压的单元,其中
调节所述期望的直流电压,以使得所述半导体开关从斩波状态变为斩波停止状态的相位(θOFF)成为期望的相位(θOFF*)。
2.如权利要求1所述的整流电路装置,其特征在于:
调整并控制所述半导体开关的斩波的单元,除了所述半导体开关从斩波状态变为斩波停止状态的相位(θOFF)外,还测定所述半导体开关从停止状态变为斩波状态的相位(θON),根据所述半导体开关从斩波状态变为斩波停止状态的相位(θOFF)和所述半导体开关从停止状态变为斩波状态的相位(θON),计算斩波状态持续的相位宽度值(θON宽度值),在所述半导体开关从斩波状态变为斩波停止状态的相位(θOFF)成为期望的相位(θOFF*)之前,在斩波状态持续的相位宽度值(θON宽度值)低于预先设定的值(θON宽度值*)的情况下,优先根据所述半导体开关从斩波状态变为斩波停止状态的相位(θOFF)来调整直流电压,调节所述期望的直流电压,以使得斩波状态持续的相位宽度值(θON宽度值)成为预先设定的值(θON宽度值*)。
3.如权利要求1或2所述的整流电路装置,其特征在于:
所述目标电流波形为,在所述交流相位的0~90度或者180~270度为止的相位,是单调增加或者一定值的组合,且在所述交流相位的90~180度、270~360度区间,存在为零的区间。
4.如权利要求1或2所述的整流电路装置,其特征在于:
所述目标电流波形为,在所述交流相位的0~90度或者180~270度为止的相位中,从所述半导体开关的斩波状态变为斩波停止状态的期望的相位(θOFF*)为止,是单调增加或者一定值的组合,且在所述交流相位的90~180度、270~360度的区间,存在为零的区间。
5.如权利要求1~4中任一项所述的整流电路装置,其特征在于:
检测交流电压与一定的电压的大小关系并使其二值化,根据所得到的二值信号的周期和相位,推定所述交流电压的相位,根据所推定的相位形成目标电流波形,基于所推定的相位信息,检测半导体开关从斩波状态变为斩波停止状态的相位(θOFF)和半导体开关从斩波停止状态变为斩波状态的相位(θON),计算期望相位(θOFF*)、持续实施斩波的相位宽度值(θON宽度值)和期望相位宽度值(θON宽度值*)。
6.如权利要求1~5中任一项所述的整流电路装置,其特征在于:
当从所述半导体开关的斩波状态变为斩波停止状态的相位(θOFF)在交流电源的半周期的期间多次出现时,使用接近交流电源的90度或者270度的相位的相位值。
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