[发明专利]用于热分析试验的调温装置无效
| 申请号： | 201180010134.6 | 申请日： | 2011-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN102770754A | 公开（公告）日： | 2012-11-07 |
| 发明（设计）人： | 于尔根·布卢姆;托马斯·登纳 | 申请（专利权）人： | 耐驰-仪器制造有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/48 | 分类号： | G01N25/48;G01N5/04 |
| 代理公司： | 北京市路盛律师事务所 11326 | 代理人： | 李宓 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 分析 试验 调温 装置 | ||
1.一种用于热分析试验的调温装置(10)，其具有
-壳体(12)，
-至少一个加热元件(16)，
-至少一个设置在所述壳体(12)中的保护套筒(14)，其中，该保护套筒(14)可与气体供应设备相连，其特征在于，所述加热元件(16)至少局部设置在所述保护套筒(14)的内部。
2.按权利要求1所述的调温装置(10)，其特征在于，所述保护套筒(14)是由陶瓷或玻璃制成的保护管。
3.按权利要求1或2所述的调温装置(10)，其特征在于，所述保护管(14)在其面向壳体(12)的外表面(30)上设置有反射的、金属的涂层。
4.按权利要求1至3之任一项所述的调温装置(10)，其特征在于，所述加热元件(16)至少局部由金属或陶瓷制成。
5.按权利要求1至4之任一项所述的调温装置(10)，其特征在于，所述保护管(14)能借助空气冷却器来冷却，其中，空气能被连续地输送到保护管(14)。
6.按权利要求1至5之任一项所述的调温装置(10)，其特征在于，所述调温装置(10)具有在0K/min至超过1000k/min范围内的加热速率。
7.按上述权利要求之任一项所述的调温装置(10)，其特征在于，所述调温装置(10)具有至少一个至少局部地设置在所述保护套筒中的防辐射板。
8.按上述权利要求之任一项所述的调温装置(10)，其特征在于，所述调温装置(10)具有至少一个至少局部设置在保护套筒中的样品支架。
9.按上述权利要求之任一项所述的调温装置(10)，其特征在于，所述调温装置(10)具有至少一个至少局部设置在所述保护套筒中的传感器装置。
10.一种分析装置，其具有按权利要求1至9之任一项所述的调温装置(10)。
11.按权利要求10所述的分析装置，其特征在于，所述调温装置(10)可取下或可更换地设置在所述分析装置上。
12.按权利要求10或11所述的分析装置，其特征在于，所述分析装置是真空密封的。
13.按权利要求10或11所述的分析装置，其特征在于，所述分析装置设计用于气体分析。
14.按权利要求10或11所述的分析装置，其特征在于，所述分析装置是热天平或热分析装置。
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