[发明专利]颗粒物检测传感器和颗粒物检测设备有效

专利信息
申请号: 201180007319.1 申请日: 2011-01-27
公开(公告)号: CN103380363A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 西岛大贵;青木圭一郎 申请(专利权)人: 丰田自动车株式会社
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张涛
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 颗粒 检测 传感器 设备
【权利要求书】:

1.一种颗粒物检测传感器,所述颗粒物检测传感器包括:

一对第一电极,所述一对第一电极测量气体中的颗粒物的数量;

固体电解质,所述固体电解质与所述一对第一电极中的至少一个所述电极相接触;

第二电极,所述第二电极与所述固体电解质的位于与和所述第一电极相接触的表面相对的侧上的表面相接触;

加热部分,所述加热部分加热所述第一电极和所述第二电极。

2.根据权利要求1所述的颗粒物检测传感器,其中,所述固体电解质具有传送氧离子的氧离子传导率。

3.根据权利要求2所述的颗粒物检测传感器,其中,当通过所述加热部分加热所述第一电极和所述第二电极时,所述第一电极被设定为正电极,而所述第二电极被设定为负电极,并且预定电压被施加在所述第一电极和所述第二电极之间。

4.一种颗粒物检测设备,所述颗粒物检测设备通过在传感器元件部分的一对第一电极之间施加预定电压来测量气体中的颗粒物的数量,所述颗粒物检测设备包括:

检测部分,所述检测部分检测是否多于基准数量的颗粒物已经聚集在所述第一电极上;

温度控制部分,当检测到已经聚集了多于基准数量的颗粒物时,所述温度控制部分将所述传感器元件部分的温度控制成等于或高于基准温度;和

电压控制部分,当检测到已经聚集了多于基准数量的颗粒物时,所述电压控制部分在所述第一电极和第二电极之间施加基准电压,所述第一电极和所述第二电极布置成使得固体电解质被夹在所述第二电极和所述第一电极之间。

5.根据权利要求4所述的颗粒物检测设备,其中,所述基准温度是700℃,并且,当在所述第一电极之间施加所述预定电压并且测量颗粒物的数量时,所述温度控制部分将所述第一电极的温度控制成等于或低于300℃。

6.根据权利要求4所述的颗粒物检测设备,其中,所述固体电解质具有传送氧离子的氧离子传导率。

7.根据权利要求6所述的颗粒物检测设备,其中,所述第一电极被设定为正电极,所述第二电极被设定为负电极,并且所述电压控制部分在所述第一电极和所述第二电极之间施加所述基准电压。

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