[发明专利]电流控制元件、存储元件、存储装置及电流控制元件的制造方法无效
| 申请号: | 201180002096.X | 申请日: | 2011-03-10 |
| 公开(公告)号: | CN102428587A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
| 发明(设计)人: | 早川幸夫;有田浩二;三河巧;二宫健生 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | H01L49/02 | 分类号: | H01L49/02;H01L27/105;H01L45/00;H01L49/00 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 徐殿军 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电流 控制元件 存储 元件 装置 制造 方法 | ||
1.一种电流控制元件,用于控制在被施加了极性为正和负的电脉冲时流过的电流,
所述电流控制元件具有:第1电极、第2电极、以及被夹在所述第1电极和所述第2电极之间的电流控制层,
所述电流控制层由SiNx构成,并且含有氢或者氟,其中0<x≤0.85,
设所述氢或者所述氟的浓度为D(=D0×1022atoms/cm3),设所述电流控制层的膜厚为d(nm),设能够在所述第1电极和所述第2电极之间施加的电压的最大值为V0(V),此时x和D和d和V0满足下式(1)、(2):
(ln(10000(Cexp(αd)exp(βx))-1)/γ)2≤V0
····(1)
(ln(1000(Cexp(αd)exp(βx))-1)/γ)2
-(ln(10000(Cexp(αd)exp(βx))-1)/γ)2/2≥0
····(2)
其中,C=k1×D0k2、α=-6.25×10-1、β=-11.7、γ=9.76,k1和k2是常数。
2.根据权利要求1所述的电流控制元件,
所述电流控制层含有氢,所述k1=5.23×10-4,所述k2=-5.26。
3.根据权利要求2所述的电流控制元件,
所述氢的浓度D满足0.75×1022(atoms/cm3)≤D≤2.0×1022(atoms/cm3)。
4.根据权利要求1~3中任意一项所述的电流控制元件,
所述膜厚d为5nm以上。
5.根据权利要求4所述的电流控制元件,
所述膜厚d为5nm以上30nm以下。
6.根据权利要求1~5中任意一项所述的电流控制元件,
能够在所述第1电极和所述第2电极之间施加的电压的最大值V0为5V以下。
7.一种存储元件,具有:
非易失性的电阻变化元件,其电阻值通过被施加极性为正或者负的电脉冲而变化;以及
权利要求1~6中任意一项所述的电流控制元件,与所述电阻变化元件串联连接,用于控制在向所述电阻变化元件施加所述电脉冲时流过的电流。
8.一种存储装置,具有:
多个位线;
多个字线,分别与所述多个位线立体交叉;以及
多个权利要求7所述的存储元件,
所述多个存储元件被设于所述位线和所述字线立体交叉的各个交点,在该各个交点,所述存储元件的一端与其对应的所述位线连接,所述存储元件的另一端与其对应的所述字线连接。
9.一种电流控制元件的制造方法,该电流控制元件控制在被施加极性为正和负的电脉冲时流过的电流,所述制造方法包括以下步骤:
在半导体基板上形成第1电极的步骤;
在所述第1电极上形成由SiNx构成的电流控制层的步骤,其中0<x≤0.85;
从所述电流控制层的上表面添加氢或者氟的步骤;以及
在所述电流控制层上形成第2电极的步骤。
10.根据权利要求9所述的电流控制元件的制造方法,
在从所述电流控制层的上表面添加氢或者氟的步骤中,向所述电流控制层照射被等离子体激励的氢或者氟。
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