[实用新型]饰品检测机

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测机械领域，尤其是涉及一种检测精确度高的饰品检测机。       

背景技术

通常的饰品检测是采用人工方式进行的，人工方式检测存在检测效率低，精确性差的缺点，造成饰品的质量无法保证的问题。

中国专利授权公告号：CN201909640U，授权公告日2011年7月27日，公开了一种检测机，包括机台台面和定位装置，所述定位装置包括：至少部分地凸出所述机台台面的定位上件，其至少一个侧面的至少一部分与待检测物体呈互补形状，用于定位待检测物体的位置；以及凹入所述机台台面的定位下件，其连接到所述定位上件，并在形状上与在所述机台台面下的凹部相配合以使所述定位下件固定到所述机台。该实用新型具有稳定性好的特点。不足之处是，效率低，精确性差，质量无法保证。

实用新型内容

本实用新型是为了克服现有技术中的检测机效率低，精确性差，质量无法保证的不足，提供了一种检测精确度高的饰品检测机。      

为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种饰品检测机，包括本体、与本体相连接的测试用计算机，所述本体包括底座、支架，底座上设有震动盘、传送带；所述支架上设有用于拍摄传送带上的饰品的摄像头；所述传送带上设有用于分流的挡板，所述底座上设有用于控制挡板运动的控制器；测试用计算机分别与摄像头和控制器相连接。

本实用新型的饰品检测机是预先在测试用的计算机中设有检测样本库，用摄像头对每个饰品进行拍照，拍照得到的数据与计算机样本库中的样本进行比对，例如：大小、光泽度，无瑕疵等都满足要求的是合格产品，否则为不符合质量标准的残次品。

测试用计算机通过软件控制摄像头的拍摄，及给控制器发送指令控制挡板的动作；震动盘用于将饰品输送到传送带上，挡板用于将不合格的饰品分流出去。

通过计算机软件控制饰品质量的检测，确保饰品质量有一个可靠地标准，检测的准确性、精确性大大提高，并且节省了人力，提高了效率。

    作为优选，所述传送带靠近挡板的位置的下方设有次品箱，传送带末端下方设有成品箱。挡板附近的次品箱用于放置不合格的饰品；传送带末端下方的成品箱用于放置合格的饰品。

作为优选，所述震动盘上设有环形轨道，轨道上设有若干个等间隔排列的半球形凹坑。凹坑用于放置饰品。

    作为优选，所述传送带上设有若干个等间隔的半球形凹坑。凹坑用于放置饰品。

    作为优选，底座为矩形，底座下表面上有若干个支撑角。该结构使得底座与地面接触更加稳固。

    作为优选，震动盘通过支柱与底座相连接。该结构使得震动盘与底座接触更加稳固。

因此，本实用新型具有如下有益效果：（1）检测饰品精确度高；（2）检测效率高。

附图说明

图1是本实用新型的一种结构示意图。

图中：底座1，支架2，震动盘3，传送带4，摄像头5，挡板6，次品箱7，凹坑8，支撑角9，支柱10，控制器11，成品箱12。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步的描述。

    如图1所示的实施例是一种饰品检测机，包括本体、与本体相连接的测试用计算机，本体包括底座1、支架2，底座上设有震动盘3、传送带4；支架上设有用于拍摄传送带上的饰品的摄像头5；传送带上设有用于分流的挡板6，底座上设有用于控制挡板运动的控制器11；测试用计算机分别与摄像头和控制器相连接。传送带靠近挡板的位置的下方设有次品箱7，传送带末端下方设有成品箱12。震动盘上设有环形轨道，轨道上设有等间隔排列的半球形凹坑。传送带上设有等间隔的半球形凹坑8。底座为矩形，底座下表面上有支撑角9。震动盘通过支柱10与底座相连接。

首先，根据传送带运行的速度，预先设定摄像头拍摄的时间间隔，使拍摄时饰品正好位于摄像头下部，确保拍摄的质量；其次，测试用计算机通过软件发出打开摄像头和控制器的电源开关的指令，拍照得到的数据与计算机样本库中的样本进行比对，大小、光泽度等满足要求的是合格产品，否则为不符合质量标准的残次品。

同时，通过计算机程序发出指令通过控制器控制挡板的动作。当程序判断出为不合格饰品时，计算机程序发出指令使挡板伸出，饰品被挡到挡板附近的传送带下方的次品箱中；合格的饰品顺着传送带被传送到位于传送带末端下方的用于放置合格产品的成品箱中。

通过计算机软件控制饰品质量的检测，确保饰品质量有一个可靠的标准，检测的准确性、精确性大大提高，并且节省了人力资源，提高了检测效率。