[实用新型]三维表面形貌的测量台架有效
申请号: | 201120569166.7 | 申请日: | 2011-12-30 |
公开(公告)号: | CN202452968U | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
发明(设计)人: | 潘晓彬;宋恭杰;舒晓模 | 申请(专利权)人: | 宁波大学 |
主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30 |
代理公司: | 宁波市鄞州甬致专利代理事务所(普通合伙) 33228 | 代理人: | 李迎春 |
地址: | 315211 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 三维 表面 形貌 测量 台架 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种零部件三维表面形态粗糙度的测量装置,具体讲是一种三维表面形貌的测量台架。
背景技术
人们通过长期的机械加工实践认识到:零件表面粗糙度对于动力消耗、摩擦系数、零部件之间配合的稳定性和可靠性、噪音和振动、疲劳强度等方面均起着关键性的作用,也可以说零部件表面的粗糙度会直接影响了仪器和机械的使用性能和使用寿命。
现有技术的形貌测量台架为二维测量台架,该台架包括一测量仪、一平台、一X轴移动装置以及一Y轴移动装置,所述的X轴移动装置安装在平台上;所述的Y轴移动装置安装在X轴移动装置上;所述的测量仪设在Y轴移动装置上。上述结构的形貌测量台架在实际的使用过程中存在以下缺陷:由于是二维的测量台架,因此其测量范围较小且由于缺少一维的测量,因此需要频繁地调动被测试件的位置、频繁测量,从而导致现有的二维测量台架的测量工作量大且测量精度较低。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是,克服以上现有技术的缺陷,提供一种测量范围大、测量工作量小且测量精度高的三维表面形貌的测量台架。
本实用新型的技术方案是,提供一种三维表面形貌的测量台架,包括一测量仪、一测量平台、一X轴移动装置以及一Y轴移动装置,所述的X轴移动装置安装在测量平台上;所述的Y轴移动装置安装在X轴移动装置上;所述三维表面形貌的测量台架还包括一Z轴移动装置,所述的Z轴移动装置安装在Y轴移动装置上;所述的测量仪设在Z轴移动装置上。
采用以上结构后,本实用新型与现有技术相比,具有以下优点:
在三维表面形貌的测量台架工作前,将该台架的X轴移动装置以及Y轴移动装置移动至测量平台的右上角,再将Z轴移动装置移动至最上端,再将需要测量的物件至于测量平台的某一位置,然后调节X、Y、Z三轴的位置,使得测量仪的触针触及所需位置即可。本实用新型三维表面形貌的测量台架由于是一个三维的测量台架,因此其测量范围大,因此在测量过程中大大减少了调动被测试件位置的次数以及频繁测量的次数,因此测量工作量小且测量精度高。
作为改进,所述的测量仪球接在Z轴移动装置上,这样就可以测量斜面的三维形貌了,从而使得其测量范围更为广阔。
作为改进,所述的X轴移动装置、Y轴移动装置以及Z轴移动装置均为滚珠丝杠式移动装置,由于滚珠丝杠具有精度高、运动效率高的优点,因此使得本实用新型三维表面形貌的测量台架的测量精度得以进一步保证。
附图说明
图1是本实用新型三维表面形貌的测量台架第一方位的结构示意图。
图2是本实用新型三维表面形貌的测量台架第二方位的结构示意图。
图中所示1、测量仪,2、测量平台,3、X轴移动装置,4、Y轴移动装置,5、Z轴移动装置,5.1、壳体,5.2、螺杆,6、第一滑动块,7、球形凸起,8、球形凹槽,9、螺钉,10、第一驱动手轮,11、第二滑动块,12、第一开口槽,13、第二驱动手轮,14、第三滑动块,15、第二开口槽,16、第三驱动手轮,17、第三开口槽。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明。
如图1、图2所示,本实用新型一种三维表面形貌的测量台架,包括一测量仪1、一测量平台2、一X轴移动装置3以及一Y轴移动装置4,所述的X轴移动装置3安装在测量平台2上;所述的Y轴移动装置4安装在X轴移动装置3上;所述三维表面形貌的测量台架还包括一Z轴移动装置5,所述的Z轴移动装置5安装在Y轴移动装置4上;所述的测量仪1设在Z轴移动装置5上。
所述的测量仪1球接在Z轴移动装置5上。
所述Z轴移动装置5上的第一滑动块6上设有一球形凸起7,所述的测量仪1上设有一球形凹槽8,所述的球形凸起7球接在球形凹槽8内,即球形凸起7可以在球形凹槽8内转动;所述的测量仪1上还设有一用于限定球形凸起7动作的螺钉9,调节位置时,松开螺钉;使用时锁紧即可。
在本实施例中,所述的X轴移动装置3、Y轴移动装置4以及Z轴移动装置5均为滚珠丝杠式移动装置。
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