[实用新型]一种用光纤位移传感器测定工件圆度误差的装置有效
| 申请号： | 201120550129.1 | 申请日： | 2011-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN202403678U | 公开（公告）日： | 2012-08-29 |
| 发明（设计）人： | 李方江;李迅鹏;刘志强;吴加权;曾春平;马琨 | 申请（专利权）人： | 昆明理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 650090 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用光 位移 传感器 测定 工件 误差 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种利用光纤位移传感器测定工件圆度误差的装置，其特征在于：包括待测工件（1）、支撑转子（2）、反射式光纤位移传感器Ⅰ（4）、双踪示波器（5）、反射式光纤位移传感器Ⅱ（6），待测工件（1）安装在支撑转子（2）上，待测工件（1）和支撑转子（2）的侧面一周均匀涂抹高反光材料（3），反射式光纤位移传感器Ⅰ（4）和反射式光纤位移传感器Ⅱ（6）分别置于待测工件（1）和支撑转子（2）的反光材料（3）涂抹处，且都与双踪示波器（5）连接。
2.根据权利要求1所述的利用光纤位移传感器测定工件圆度误差的装置，其特征在于：反射式光纤位移传感器Ⅰ（4）和反射式光纤位移传感器Ⅱ（6）到反光材料（3）的距离均为5mm。
3.根据权利要求1所述的利用光纤位移传感器测定工件圆度误差的装置，其特征在于：所述的反射式光纤位移传感器Ⅰ（4）和反射式光纤位移传感器Ⅱ（6）为相同结构的光纤位移传感器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆明理工大学，未经昆明理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201120550129.1/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种自供电自然环境质量监测系统
- 下一篇：一种快速测量零件厚度/高度的检具
