[实用新型]测试程序优化的内存IC检测分类机

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种内存IC检测分类机，尤其是涉及通过优化测试流程，缩短各动作机构的运行时间，改善整机工作状况，提高了整机工作效率的内存IC检测分类机。

背景技术

目前，半导体IC大致分为逻辑IC，内存IC，模拟IC和微组件IC，盛放半导体IC的载体主要有管装，载带装和托盘装，本实用新型是针对JEDEC托盘装内存IC提出的一种检测分类机。传统的内存IC检测分类机，工作流程是，取放臂从载体中取出IC放置到内存IC测试模组中，待内存IC测试系统完成测试后，再由取放臂将IC从内存IC测试模组中取出分类放置于不同级载体中，由于内存IC测试系统测试速度慢，且内存IC测试系统测试时，各动作机构需要等待，从而导致效率低下。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种结构简单、测试效率高的内存IC检测分类机。

为了达到上述要求，本实用新型的技术方案是：它包含：至少一个JEDEC托盘装上料传送模组，上料机械手，第一缓冲和预定位模组，抓取机械手，内存IC测试模组，第二缓冲和预定位模组，下料机械手，至少一个JEDEC托盘装下料传送模组，和与内存IC测试模组相连的内存IC测试系统，其中，内存IC测试模组是由多个IC测试模块阵列而形成，且按照包含相同数量IC测试模块的区域划分成多个相同的区域，内存测试系统通过电信号切换与这些相同区域的IC测试模块相连接。

所述的第一缓冲和预定位模组、第二缓冲和预定位模组分别位于内存IC测试模组之前与之后，分别与上料传送模组和下料传送模组相衔接，并且，第一缓冲和预定位模组、第二缓冲和预定位模组可沿直线移动，且直线上分布着多个点位分别对应于不同划分区域。

上料机械手、下料机械手和抓取机械手的端部均安装有真空吸嘴，沿水平方向和竖直方向的移动轴移动对所划分成多个相同区域内的内存IC进行取放和测试。

本实用新型提供的内存IC检测分类机，通过优化测试流程，将内存IC测试模组划分为多个相同区域，然后对不同区域进行操作，内存IC测试系统通过电信号切换与不同区域内内存IC测试模块连接，优化测试流程，这样不仅降低存IC测试系统的成本，而且各动作机构

如图6所示，本实用新型的内存IC检测分类机的第一缓冲和预定位模组2和第二缓冲和预定位模组6，是由一水平移动轴10和一预定位板11组成，预定位板11上有导向定位用的斜坡定位槽12，内存IC 13放置于斜坡定位槽时，借助于自重，沿斜坡下滑，落入斜坡定位槽12中，从而实现内存IC13的定位。

如图7所示，本实用新型的内存IC检测分类机的JEDEC托盘装上料传送模组1和JEDEC托盘装下料传送模组8，是由两个顶升装置14、两个料匣15和一水平传送轴16组成，料匣15内可盛放多个JEDEC托盘17。顶升装置14通过偏心轮带动顶升杆升起或下降，而实现将JEDEC托盘17从料匣15中取出并放置到水平传送轴16上，水平传送轴16移动带动JEDEC托盘17一起移动。

如图8、9、10所示，上料机械手2，下料机械手7和抓取机械手4，均是在端部安装有真空吸嘴18的移动轴19，可沿水平方向和竖直方向移动。

如上所述的内存IC检测分类机，工作流程如下：

1)，JEDEC托盘装上料传送模组的顶升装置和水平传送轴将盛放待检测内存IC的JEDEC托盘送到设定位置，上料机械手从JEDEC托盘中吸取一定数量的待检测内存IC，并移动送至第一缓冲和预定位模组的预定位板的定位槽，重复执行，直到所有定位槽中都放有待检测内存IC；

2)，第一缓冲和预定位模组的水平移动轴移动至第一上料位点，抓取机械手从定位槽中一次性吸取全部待检测内存IC，并移动送至第一区域第一列位置内存IC测试模块的放置槽中，内存IC测试系统开如测试；

3)，重复1)和2)直到第一区域所有内存IC测试模块中都放有待检测内存IC；

4)，重复1)，第一缓冲和预定位模组的水平移动轴移动至第二上料位点，抓取机械手从定位槽中一次性吸取全部待检测内存IC，并移动送至第二区域第一列位置内存IC测试模块的放置槽中，内存IC测试系统开如测试；

5)，重复1)和4)直到第二区域所有内存测试模块中都放有待检测内存IC；

6)，与此同时，当第一区域内第一列位置内存IC测试模块中待检测内存IC测试完成后，第二缓冲和预定位模线的水平移动轴移动至第一下料位点，抓取机械手从第一区域第一列位置内存IC测试模块的放置槽中一次性吸取全部检测过的内存IC，并移动送至第二缓冲和预定位模组的预定位板的定位槽中；