[实用新型]一种照明灯老化测试设备及使用该设备的老化测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及照明检测设备技术领域，尤其是指一种照明灯老化测试设备及使用该设备的老化测试系统。

背景技术

照明灯尤其是LED照明灯，在开发生产出产品后，需要对照明灯进行老化测试；目前的老化测试通常为，测试照明灯在一定的环境下进行实验，在一定的时间后，在进行性能检测；通常性能检测是通过性能积分球内进行，一般检测在一定时间后的色温、电性、CIE X/Y等性能，以评定照明灯的老化性能。在老化测试过程中，需要先将照明灯安装在设定的环境下的运行，经过一段时间需要进行测试时还需要拆卸下来在积分球内进行参数的检测，然后进行老化性能的评定。整个过程中，过程繁琐复杂，设备复杂，老化测试成本高，很多地方都需要人工手动进行，况且每次测试只是一个数据点，不能全面分析整个老化过程的变化曲线。

实用新型内容

本实用新型在于针对目前照明灯老化测试设备测试过程复杂、成本高等问题，而提供解决以上问题的一种照明灯老化测试设备及使用该设备的老化测试系统。

为达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种照明灯老化测试设备，包括一密闭的暗箱箱体，所述箱体设置一箱门，箱体内设置一灯座板，所述灯座板上设置安装灯座，所述箱体内设置朝向安装灯座的感应传感器。

其中所述安装灯座矩阵排列。

其中所述箱门铰接在箱体上。

其中所述老化测试系统包含如上所述的照明灯老化测试设备，所述照明灯老化测试设备的安装灯座与传感器电连接一控制处理器。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型的照明灯老化测试设备包括密闭的暗箱箱体，所述箱体设置一箱门，箱体内设置一灯座板，所述灯座板上设置安装灯座，所述箱体内设置朝向安装灯座的感应传感器；在照明灯老化测试设备的安装灯座与传感器电连接一控制处理器形成了本实用新型的老化测试系统；使用本实用新型老化测试系统，将测试的照明灯安装在灯座板的安装灯座上，关上箱门，将箱体内环境设置成所需的测试环境，通过控制处理器的设定，测试相应的照明灯时，控制相应的灯通电，传感器测试相关的参数信息，并记录下来，并定时设置检测记录，可以进行多盏灯的老化测试，每盏灯都进行了长期不同时间的性能参数记录；过程单一，设备简单，老化测试成本低，无需要人工手动操作，长期定时测试，全面分析照明灯整个老化过程的变化曲线，更科学的获取照明灯的老化数据。

附图说明

图1为本实用新型照明灯老化测试设备结构示意图

图2为本实用新型照明灯老化测试系统结构示意图

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步阐述：

一种照明灯老化测试设备，如图1所示，包括一密闭的暗箱箱体1，在箱体1设置一箱门11，箱体1内设置一灯座板2，灯座板2上设置安装灯座21，箱体1内设置朝向安装灯座21的感应传感器3；作为较佳实施例，灯座板2依箱体1形状一般设置成方形，将灯座矩阵排列，可以充分利用空间面积，最大程度的安装较多的安装灯座21。

箱门11的设置为了便于安放取卸照明灯，为了便于开启，降低成本，箱门11采用铰链铰接在箱体1上。

本发明的老化测试系统，如图2所示，使用本实用新型的照明灯老化测试设备10，在照明灯老化测试设备的安装灯座21与传感器3电连接一控制处理器4。

使用本实用新型老化测试系统时，将测试的照明灯5安装在灯座板2的安装灯座21上，关上箱门11，将箱体1内环境设置成所需的测试环境，通过控制处理器4的设定，测试相应的照明灯时，控制相应的灯通电，传感器测试相关的参数信息，并记录下来，并定时设置检测记录，可以进行多盏灯的老化测试，每盏照明灯都进行了长期不同时间的性能参数记录；过程单一，设备简单，老化测试成本低，无需要人工手动操作，长期定时测试，全面分析照明灯整个老化过程的变化曲线，更科学的获取照明灯的老化数据。

以上所述实施例，只是本实用新型的较佳实例，并非来限制本实用新型实施范围，故凡依本实用新型申请专利范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均应包括于本实用新型专利申请范围内。