[实用新型]TR组件检测控制系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及对雷达等多收发单元通信设备的有源阵面相控天线的TR组件进行检测、调控技术领域，特别是一种TR组件检测控制系统。

背景技术

目前，在雷达等通信设备中，大量的有源收发组件（T/R组件）构成的有源阵面天线正在被广泛应用。如何对阵面上的T/R组件进行检测调控，以及使其在必要时具有自适应控制能力是一个非常关键的技术。现有技术中一般采用附装射频调控网络的方法，即内测法实现对T/R组件的检测控制。但是由于对阵面上T/R组件进行检测时，必须先经过开关矩阵，再以射频（雷达工作频率）方式传输到位于阵面下方的射频矢网进行检测，从而使阵面的费用、重量和功耗大大增加，以致很多通信设备不得不放弃了对于有源阵面的T/R组件进行检测、调控和自适应的要求。

发明内容

本实用新型针对现有技术的缺陷提供一种TR组件检测控制系统，其通过幅相测量芯片的测幅、测相的功能对有源阵面天线中的TR组件进行检测、比幅、比相，从而实现对有源阵面天线的检测控制，使有源阵面天线具有自适应的能力。

为了实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：一种TR组件检测控制系统，包括1个以上幅相测量芯片，幅相测量芯片包括第一射频信号输入端、第二射频信号输入端、幅控输入端、相控输入端、幅控输出端和相控输出端；

每个幅相测量芯片的第一射频信号输入端和第二射频信号输入端分别通过定向耦合器接收TR组件的射频信号；幅控输出端与TR组件的衰减器相连接；相控输出端与TR组件的移相器相连接；

还包括第一转换开关和第二转换开关，各转换开关分别包括一个信号输出端和两个信号输入端；

第一转换开关的信号输出端连接幅相测量芯片的幅控输入端；第一转换开关的两个信号输入端分别连接幅相测量芯片的幅控输出端和外部幅控信号；

第二转换开关的信号输出端连接幅相测量芯片的相控输入端；第二转换开关的两个信号输入端分别连接幅相测量芯片的相控输出端和外部相控信号。

作为一种改进，本实用新型还包括指示单元，指示单元的输入端连接幅相测量芯片的幅控输出端以及相控输出端；指示单元、幅相测量芯片的幅控输出端以及相控输出端、TR组件的衰减器或者移相器，三者之间通过单刀双掷开关连接。具体的，当需要对TR组件进行检测时，控制单刀双掷开关使得指示单元连接幅相测量芯片的幅控输出端或者相控输出端，接收到直流检测信号，用于TR组件的自检或比检；后续TR组件的自检或比检可利用现有技术。

优选的，本实用新型中所述幅相测量芯片为现有的幅相测量芯片AD8032。其端口INPA、INPB分别为第一和第二射频输入端；端口VMAG、VPHS分别为幅控输出端和相控输出端；端口MSET、PSET分别为幅控输入端和相控输入端。 

在利用幅相测量芯片对有源阵面天线的多TR组件进行检测控制时，本实用新型的一种控制结构为：幅相测量芯片的数量为1个，TR组件为1个以上；每个TR组件的射频输出端和射频输入端皆分别连接一个定向耦合器的信号输入端；幅相测量芯片的第一射频输入端和第二射频输入端与多个定向耦合器之间通过微波开关连接；微波开关中包括2个以上可选通道，使得每个定向耦合器的信号输出端皆能够连通幅相测量芯片的任何一个射频输入端。

进一步的，上述微波开关中仅有两个可选通道被选通；被选通的两个可选通道的输出端分别连接幅相测量芯片的第一射频信号输入端和第二射频信号输入端；

为了实现每一个TR组件的自检或自控，被选通的两个可选通道的输入端分别连接同一个TR组件输入端的射频信号和输出端的射频信号；幅相测量芯片的幅控输出端和相控输出端分别连接被选通的TR组件的衰减器和移相器；第一转换开关连通幅相测量芯片的幅控输入端和外部幅控信号；第二转换开关连通幅相测量芯片的相控输入端和外部相控信号。自检和自控的切换通过控制连接指示单元的单刀双掷开关实现。

为了实现两个TR组件之间的比检或比控，被选通的两个可选通道的输入端分别连接两个不同TR组件输出端的射频信号；幅相测量芯片的幅控输出端和相控输出端分别连接其中一个被选通的TR组件的衰减器和移相器；第一转换开关连通幅相测量芯片的幅控输入端和幅控输出端；第二转换开关连通幅相测量芯片的相控输入端和相控输出端。比检和比控的切换通过控制连接指示单元的单刀双掷开关实现。