[实用新型]一种电器元件引线的抗拉测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，特指一种电器元件引线的抗拉测试装置。

背景技术

目前，对电器元件的引线进行的抗拉强度测试，一般是在PCB板上将电器元件的引线插入孔中，分别在引线上挂规定的砝码，从而确定是否满足标准要求；然而，使用的PCB板的厚度仅为1.2mm～1.5mm，板体容易变形折损，且通过此类PCB板测试电器元件时，插置在PCB板上的电器元件本体容易转动，当砝码挂设在引线上后的作用力和砝码本身的反作用力不在同一直线上时，电器元件的本体容易发生折弯，从而影响测试效果。

发明内容

本实用新型的目的在于克服现有技术中的不足之处而提供一种电器元件引线的抗拉测试装置，该测试装置增加了测试部分的强度，保证了测试结果的准确性。

为实现上述目的，本实用新型采用如下的技术方案：

一种电器元件引线的抗拉测试装置，它包括支架和测试构件，该支架由底座、立柱和夹具组成，该立柱安装在底座上，该测试构件通过夹具设置在立柱上，所述的测试构件上设置有两个以上的凹槽，该凹槽的槽底设置有至少两个的插引孔。

所述的插引孔为一由凹槽的槽底与测试构件的底面垂直贯穿的通孔，该插引孔每两个成一孔组，该两引线孔的间距与待测电器元件的引线间距相配合。

所述的插引孔的孔径1.2～1.5mm，每孔组中的两插引孔的间距为5～10mm。

所述的凹槽的槽宽为4～8mm，该凹槽的槽深为8～10mm。

所述的测试构件的厚度为12～15mm。

所述的测试构件上设置有三个凹槽，各该凹槽的槽底中部设置有两个插引孔，该测试构件的厚度为12mm，各该凹槽的槽宽为4mm，各该凹槽的槽深为8mm，在第一凹槽中的两插引孔的间距为5mm，在第二凹槽中的两插引孔的间距为7.5mm，在第三凹槽中的两插引孔的间距为10mm，各该插引孔的孔径为1.2mm。

本实用新型的有益效果在于：测试构件厚度的增加，提高了测试部分的强度，在测试构件上的凹槽设计，通过凹槽两侧对被测电器元件的状态加以限制，保证了其不会因测试砝码的作用力与元件引线的反作用力不在同一直线上而使得本体折弯，保证了测试结果的准确性。

附图说明

图1 是本实用新型的立体结构图。

图2 是本实用新型的侧视图。

图3 是本实用新型测试构件的俯视图。

附图标号说明：

1.支架；      11.底座；    12.立柱；    13.夹具；

2.测试构件；  21.凹槽；    22.插引孔。

具体实施方式

以下结合说明书附图对本实用新型作进一步说明：

具体实施例1：

如图1-3所示，本实用新型关于一种电器元件引线的抗拉测试装置，它包括支架1和测试构件2，该支架1由底座11、立柱12和夹具13组成，该立柱12安装在底座11上，该测试构件2通过夹具13设置在立柱12上，测试构件2上设置有两个以上的凹槽21，该凹槽21的槽底设置有至少两个的插引孔22。

如图2所示，插引孔22为一由凹槽21的槽底与测试构件2的底面垂直贯穿的通孔，该插引孔22每两个成一孔组，该两引线孔的间距与待测电器元件的引线间距相配合。

如图3所示，插引孔22的孔径1.2～1.5mm，每孔组中的两插引孔22的间距为5～10mm。

如图2-3所示，凹槽21的槽宽为4～8mm，该凹槽21的槽深为8～10mm。

如图2所示，测试构件2的厚度为12～15mm。

具体实施例2：

如图2-3所示，本实用新型所揭示的一种电器元件引线的抗拉测试装置，其测试构件2上设置有三个凹槽21，各该凹槽21的槽底中部设置有两个插引孔22，该测试构件2的厚度为12mm，各该凹槽21的槽宽为4mm，各该凹槽21的槽深为8mm，在第一凹槽21中的两插引孔22的间距为5mm，在第二凹槽21中的两插引孔22的间距为7.5mm，在第三凹槽21中的两插引孔22的间距为10mm，各该插引孔22的孔径为1.2mm，本实施例中未解释的技术特征，采用具体实施例1中的解释，在此不再进行赘述。

以上所述仅是对本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型的范围进行限定，故在不脱离本实用新型设计精神的前提下，本领域普通工程技术人员对本实用新型所述的构造、特征及原理所做的等效变化或装饰，均应落入本实用新型申请专利的保护范围内。