[实用新型]液晶面板检测单元和检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶面板技术领域，尤其是一种液晶面板检测单元和检测装置。

背景技术

在液晶面板的排布设计中，液晶显示屏与屏之间通常有废材位置设计，即使部分“零切割”产品，由于仍需要切割出阵列基板的电极边，因此在彩膜基板上还存在废材。

在废材切割的实际生产中，基于切割压力、裂片效果、不良情况等各个因素，会发生废材无法完全脱落或废材破碎等情况，这些情况统称为废材残留。当废材残留的液晶屏进入下游工序，残留的废材可能造成屏破碎等不良后果，影响合格率。因此，在废材切割完成后都会有废材残留的检测单元。

目前，主流切割机中常用的检测单元称为检测针(Pin)，其检测原理是柱状的检测针在移动时通过传感器感应阻力来检测废材是否有残余，但检测针在实际生产中存在一些问题包括：1、检测针只能检测阵列基板的废材残留，不能对彩膜基板电极边的废材残留起到检测作用；2、检测针和液晶显示屏只进行点接触，因此检测精度不高，由于检测区域有限制，在废材断裂的情况下检出能力不足。

实用新型内容

(一)要解决的技术问题

本实用新型要解决的技术问题是，针对上述问题，如何提供一种既能检测阵列基板的废材残留又能检测彩膜基板电极边的废材残留且检测区域不受限制的液晶面板检测单元和检测装置。

(二)技术方案

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种液晶面板检测单元，包括：竖直放置的阵列基板检测条和水平放置的彩膜基板检测条；其中：所述彩膜基板检测条的下表面与所述阵列基板检测条的上端固定连接。

其中，所述的液晶面板检测单元还包括：调节阀；所述彩膜基板检测条进一步包括沿其长度方向设置的调节槽，所述调节阀通过所述调节槽与所述阵列基板检测条的上端固定连接，并在所述彩膜基板检测条的长度方向上移动。

其中，所述彩膜基板检测条还包括：沿垂直于其长度方向设置的一条或多条刻度线。

其中，所述彩膜基板检测条与所述阵列基板检测条的宽度相同且均为50-100毫米。

其中，所述彩膜基板检测条的厚度与所述阵列基板检测条的厚度均大于等于10毫米。

本实用新型还包括一种液晶面板检测装置，包括：至少一根液晶面板检测条，所述至少一根液晶面板检测条包括同方向并排布置的至少两个上述任一项所述的液晶面板检测单元。

其中，所述至少一根液晶面板检测条进一步包括：第一检测单元连接架，位于所述至少两个液晶面板检测单元的彩膜基板检测条的上方并分别与所述至少两个液晶面板检测单元的彩膜基板检测条的上表面相连接。

其中，所述至少一根液晶面板检测条进一步包括：第二检测单元连接架，位于所述至少两个液晶面板检测单元的阵列基板检测条的下方并分别与所述至少两个液晶面板检测单元的阵列基板检测条的下端相连接。

其中，所述液晶面板检测条为四根，其中两根所述液晶面板检测条相互平行，并与其余两根所述液晶面板检测条相垂直。

其中，所述至少一根液晶面板检测条中液晶面板检测单元的间距大于所述彩膜基板检测条的宽度、所述阵列基板检测条的宽度和所述彩膜基板检测条的长度的最大值。

(三)有益效果

本实用新型公开了一种液晶面板检测单元和检测装置，通过阵列基板检测条和彩膜基板检测条分别检测电极边阵列基板和彩膜基板的废材残留；且可以通过调节阀调整阵列基板检测条的位置，并用刻度线来表示位置，可对应电极边宽度不同的产品检测；通过增大阵列基板检测条和彩膜基板检测条的宽度，可增加检测面积。解决了原有检测针只能检测阵列基板，不能检测彩膜基板废材残留的问题，并达到了增加检测面积的效果。

附图说明

图1是本实用新型实施例所述的液晶面板检测单元的结构示意图；

图2是本实用新型实施例所述的液晶面板检测单元检测无废材残留液晶面板的示意图；

图3是本实用新型实施例所述的液晶面板检测单元检测废材残留液晶面板的示意图；

图4是本实用新型实施例所述的液晶面板检测装置的第一检测单元连接架的结构示意图；

图5是本实用新型实施例所述的液晶面板检测装置的第二检测单元连接架的结构示意图。

其中，1：阵列基板检测条；2：彩膜基板检测条；3：调节阀；4：调节槽；5：刻度线；6：彩膜基板；7：阵列基板；8：废材残留；9：第一检测单元连接架；10：第二检测单元连接架。

具体实施方式