[实用新型]一种小型化高低温测试波导开关箱

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种小型化高低温测试波导开关箱，是一种测试电子器件的电子装置，是一种用于测试微波元件的测试装置。

背景技术

微波元件的测试，需要在高温和低温的环境下，接通模拟微波信号，对微波元件进性能参数测试。通常需要将微波元件放在专门的高低温测试箱中。高低温测试箱中加温或降温，模拟高温和低温的工作环境。高温要求达到85摄氏度，低温要求到达负45摄氏度。这样的高低温测试箱的内部容积有一定的限制，过大的内部容积将增加高低温测试箱的费用，不可取。对于微波元件这样特殊的元件来说测试还面临一个困难是加测试信号问题。微波元件的输入或输出采用波导管。波导管是一种硬质的，截面为矩形的薄壁不能柔软弯曲的铜制管子，一旦弯曲成形，就不能在改动。与其他柔软的电缆，如同轴电缆、双绞线相比走线十分困难。管路内孔的对接还必须十分精确，控制在±0.05mm范围之内，管路的对接通常需要使用数控机床加工的法兰对接。高低温测试箱有限的空间和困难的走线，促使检测采用将单个产品放入高低温测试箱进行测试的方法。这种传统的测试方法测试效率低是显而易见的。更为严重的是每个元件在高低温测试箱中的波导连接和同轴连接并不十分一致。由于是单个系统，连接系统的误差很难校准，这就造成了测试数据一致性差的问题。

发明内容

为了克服现有技术的问题，本实用新型提出了一种小型化高低温测试波导开关箱。所述的开关箱可以放置在高低温测试箱中。开关箱上同时连接多个被测微波元件。所述的开关箱采用多路测试，精心的排列测试元件的位置，在高低温测试箱有限的空间中尽可能多的安排测试元件，并设置固定的波导管和波导开关组成的连接系统，排除测试系统的连接误差，以获得精确的测试结果。

本实用新型的目的是这样实现的：一种小型化高低温测试波导开关箱，包括：矩形的箱体底座，所述的箱体底座的一端设有面板，所述的箱体底座上设有台板，所述的箱体底座的中部设有矩形的连接箱，所述的连接箱与面板平行的两侧面设有四组穿墙波导连接器，每组穿墙波导连接器有两个穿墙波导连接器，每组穿墙波导连接器测试端可分别单独连接被测试微波元件，也可以通过双通道波导转换器组合连接被测微波元件，所述穿墙波导连接器的非测试端通过连续弯波导管与波导开关连接；所述的面板上设置有波导管输入口、波导校验口、同轴电缆输出口、同轴电缆校验口、控制线插接口；所述的台板上设有被测件同轴电缆插接口、被测件控制线插接口和波导输入校验口。 

本实用新型产生的有益效果是：在所述开关箱的中部设置连接箱的方式，使被测微波元件的排列紧凑、合理，实现了多路测试。使高低温测试箱有限的空间中可以一次排列八个被测元件，大大提高了测试效率。在台板上设置各个被测微波元件的同轴插口和控制插口，使被测元件的连接方便，台板上整洁，干净。设置波导校验口和同轴电缆校验口，通过校验可以排除误差，精确的测试微波元件。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型的实施例一所述开关箱的示意图；

图2是本实用新型的实施例二所述穿墙波导连接器的示意图；

图3是本实用新型的实施例三所述双通道波导转换器的示意图；

图4是本实用新型的实施例四所述连续弯波导管的示意图。

具体实施方式

实施例一：

本实施例是一种小型化高低温测试波导开关箱，如图1所示。本实施例包括：矩形的箱体底座10，所述的箱体底座的一端设有面板1，所述的箱体底座上设有台板5，所述箱体底座的两侧设有手把8，所述的箱体底座的中部设有矩形的连接箱4，所述的连接箱与面板平行的两侧面设有八个穿墙波导连接器3，每个穿墙波导连接器或单独连接被测试微波元件，或两个一组通过双通道波导转换器9连接被测微波元件，所述穿墙波导连接器的非测试端通过连续弯波导管与波导开关连接；所述的面板上设置有波导管输入口13、波导校验口、同轴电缆输出口12、同轴电缆校验口、控制线插接口11；所述的台板上设有被测件同轴电缆插接口6、被测件控制线插接口7和波导输入校验口2。