[实用新型]一种用于测量三维空间两点位置的装置

权利要求书

1.一种用于测量三维空间两点位置的装置，其特征在于，包括与三维坐标系X轴平行设置的长条形具有基座标尺(11)的基座(1)，垂直固定于基座(1)上与三维坐标系Y轴平行设置的固定尺(2)，套于固定尺(2)上的与三维坐标系Z轴平行设置的固定尺量爪(4)，所述固定尺量爪(4)可沿固定尺(2)上下滑动；所述长条形基座(1)上还设有与三维坐标系Y轴平行的垂直套于基座(1)上的活动尺(3)，活动尺(3)上套接有与三维坐标系Y轴平行设置的活动尺量爪块(5)；所述活动尺量爪块(5)上具有活动量爪(52)，活动量爪(52)具有正负刻度的量尺(53)。

2.如权利要求1所述的用于测量三维空间两点位置的装置，其特征在于所述的固定尺量爪(4)上安装有固定尺量爪定位旋钮(41)；所述的活动尺(3)套于基座(1)的位置上具有活动尺定位旋钮(31)；所述的活动尺量爪块(5)上安装有活动尺量爪块定位旋钮(51)。

3.如权利要求1所述的用于测量三维空间两点位置的装置，其特征在于，所述基座(1)一端具有截面呈倒“T”形的活动尺(3)套接楔槽(12)。

4.如权利要求2所述的用于测量三维空间两点位置的装置，其特征在于，所述的活动尺定位旋钮(31)为带椭圆形螺帽的定位螺丝；所述的固定尺量爪定位旋钮(41)为带椭圆形螺帽的定位螺丝；所述活动尺量爪块定位旋钮(51)为带椭圆形螺帽的定位螺丝。

5.如权利要求1所述的用于测量三维空间两点位置的装置，其特征在于，所述的正负刻度的量尺(53)在活动量爪(52)上沿三维坐标的Z轴方向设置，读数为0时，活动量爪(52)与固定尺量爪(4)在三维坐标的Z轴方向上处于同一位置。

6.如权利要求1所述的用于测量三维空间两点位置的装置，其特征在于，所述的固定尺(2)的竖直方向上设有刻度指示(21)，活动尺(3)的竖直方向上设有刻度指示(32)。

7.如权利要求1所述的用于测量三维空间两点位置的装置，其特征在于，所述的固定尺(2)的刻度与活动尺(3)的刻度在三维坐标的Y轴方向上处于同一位置。 

8.如权利要求1所述的用于测量三维空间两点位置的装置，其特征在于，所述的基座标尺(11)的X轴0起点位置在固定尺(2)与基座(1)的垂交点位置。