[实用新型]电子元器件参数测试平台

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子元器件测试设备。

背景技术

常用的电子元器件有电阻、电容、二极管、三极管等，采用万用表即可对这些电子元器件进行测试，还有一些常用的电子元器件，如555集成块、可控硅、LM317、7805等，单独用万用表难以进行测试。

实用新型内容

本实用新型提供一种可扩展的电子元器件参数测试平台。

电子元器件参数测试平台，其特征在于包括电源模块、电压显示模块以及信号源模块，还包括若干个并联的卡槽，所述卡槽至少包括7个连接端子，所述电源模块包括电源地端、+15V输出端以及+30V输出端，分别连接至卡槽的第一连接端子、第二连接端子和第三连接端子；电压显示模块包括电压输入第一端和电压输入第二端，分别连接至卡槽的第四连接端子和第五连接端子；信号源模块包括信号输出端和信号地端，分别连接至卡槽的第六连接端子和第七连接端子。

进一步的，所述的电子元器件参数测试平台，包括555测试模块，所述555测试模块包括第一插卡，第一插卡能够可拆卸地装插到卡槽上；所述555测试模块包括555测试座、第十一电阻、第十二电阻、第十三电阻、第十四电阻、第十一电容、第十二电容以及第十一发光二极管，555测试座的第一端口连接至第一插卡的的第一连接端子，555测试座的第二端口与555测试座的第六端口相连，第十一电容为电解电容，555测试座的第二端口与第十一电容的正极相连，第十一电容的负极与测试座的第一端口相连，第十一电容的正极通过第十二电阻连接至测试座的第七端口，测试座的第三端口通过第十四电阻连接至测试座的第一端口，测试座的第四端口与测试座的第八端口相连，并连接至第一插卡的第二连接端子，测试座的第八端口通过第十一电阻连接至测试座的第七端口，测试座的第八端口通过第十一发光二极管以及第十三电阻连接至测试座的第三端口。

进一步的，所述的电子元器件参数测试平台，包括单向可控硅测试模块，单向可控硅测试模块包括第二插卡，第二插卡能够可拆卸地装插到卡槽上；单向可控硅测试模块包括第一三端测试座，第一三端测试座的第三端口连接至第二插卡的第一连接端子，第一三端测试座的第一端口经过第二十二开关连接至第一三端测试座的第三端口，第二插卡的第二连接端子经过第二十三电阻以及第二十一发光二极管连接至第一三端测试座的第一端口，第二插卡的第二连接端子经过第二十一电阻以及第二十二电阻连接至第一三端测试座的第三端口，第二十一电阻与第二十二电阻的连接点经过第二十一开关连接至第一三端测试座的第二端口。进一步的，第二十一开关和第二十二开关均为轻触开关。

进一步的，所述的电子元器件参数测试平台，包括LM317测试模块，LM317测试模块包括第三插卡，第三插卡能够可拆卸地装插到卡槽上；LM317测试模块包括第二三端测试座，第二三端测试座的第三端口连接至第三插卡的第二连接端子，第二三端测试座的第一端口通过第三十一电阻连接至第二三端测试座的第二端口，第二三端测试座的第一端口通过第三十二电阻连接至第三插卡的第一连接端子，第三十一电容与第三十二电阻并联，第二三端测试座的第二端口通过第三十三电阻连接至第三插卡的第四连接端子，第三插卡的第四连接端子通过第三十四电阻连接至第三插卡的第一连接端子，第三插卡的第一连接端子与第三插卡的第五连接端子相连。

进一步的，所述的电子元器件参数测试平台，包括78系列稳压块测试模块，78系列稳压块测试模块包括第四插卡，第四插卡能够可拆卸地装插到卡槽上；78系列稳压块测试模块包括第三三端测试座，第三三端测试座的第一端口连接至第四插卡的第三连接端子，第三三端测试座的第一端口与第三三端测试座的第二端口之间设有第三十二电容，第三三端测试座的第三端口与第三三端测试座的第二端口之间设有第三十三电容，第三三端测试座的第二端口连接至第四插卡的第一连接端子，第四插卡的第一连接端子与第四插卡的第五连接端子相连，第三三端测试器的第三端口与第四插卡的第四连接端子相连。

与现有技术相比，本实用新型具有如下优点：本实用新型采用模块接合方式，具有扩展性，如果需要测试其他电子元器件，可以方便地进行扩展，因此本实用新型的电子元器件参数测试平台可以测试多种较复杂的电子元器件，非常适用于电子工艺实习中。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是555测试模块的电路原理图；

图3是单向可控硅测试模块的电路原理图；

图4是LM317测试模块的电路原理图；